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申请/专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
摘要：本申请公开了一种对缺陷的聚类方法。聚类方法包括：获取多个缺陷在第一图像中的第一位置信息；获取第二图像，第二图像包括多个图像单元；基于第一位置信息，将多个缺陷映射至第二图像中以形成映射图案；基于映射图案所在的图像单元的第二位置信息，对映射图案对应的缺陷划分为至少两个不同的类；及对每个不同的类中的缺陷单独进行聚类。本申请还公开了一种对缺陷的聚类装置、检测设备及计算机可读存储介质。将多个缺陷映射至第二图像中并形成映射图案，且先将多个缺陷划分为至少两个不同的类，再就不同的类中的缺陷单独进行聚类，在进一步进行单独聚类时，每一类中需要进行单独聚类的缺陷的数量较少，聚类的总的计算量较小。
主权项：1.一种对缺陷的聚类方法，其特征在于，所述聚类方法包括：获取多个缺陷在第一图像中的第一位置信息；获取第二图像，所述第二图像包括多个图像单元；基于所述第一位置信息，将多个所述缺陷映射至所述第二图像中以形成映射图案；基于所述映射图案所在的图像单元的第二位置信息，对所述映射图案对应的缺陷划分为至少两个不同的类；及对每个不同的类中的缺陷单独进行聚类；所述获取第二图像，包括：划分所述第二图像为多个阵列排布的图像单元，多个所述图像单元与所述第一图像中，多个边长为预设距离阈值的正方形单元格一一对应；所述距离阈值小于或等于，同一类缺陷内任意一个缺陷与其余缺陷之间的最小距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳中科飞测科技股份有限公司 对缺陷的聚类方法及聚类装置、检测设备及可读存储介质
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