龙图腾网恭喜中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN105784647B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2021-01-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201610304177.X，技术领域涉及：G01N21/59(20060101)；该发明授权基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法是由李建玉;徐文清;朱文越;黄宏华;詹杰;钱仙妹;魏合理;饶瑞中设计研发完成，并于2016-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法，可采用外推法提取激光谱线透过率，或者采用实测法提取激光谱线透过率。本发明是基于太阳宽谱直接辐射测量提取成激光谱线透过率的方法，该发明提供了两种成本低可实时获取多个激光波段大气透过率的方法。可弥补大气光学透过率软件包和激光雷达获取激光波段大气透过率的不足。该方法获取的激光波段大气透过率可用于激光大气传输修正中，对评估激光测距、激光通信、激光传输、激光制导等具有重要意义。

本发明授权基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法在权利要求书中公布了：1.基于太阳宽谱直接辐射提取激光谱线透过率方法，其特征在于：采用外推法提取激光谱线透过率，包括以下步骤：1、选择晴好天气，对日本POM02型太阳辐射计的0.4μm、0.5μm、0.675μm、0.87μm、0.94μm、1.02μm、1.63μm波段采用Langley法和改进的Langley法进行定标，得到各波段定标值V0λ；并进行实验测量，得到0.4μm、0.5μm、0.675μm、0.87μm、0.94μm、1.02μm、1.63μm波段太阳宽谱直接辐射Vλ；2、利用实测的0.4μm、0.5μm、0.675μm、0.87μm、1.02μm、1.63μm六个波段太阳宽谱直接辐射根据如下公式得到各波段气溶胶光学厚度τaλ，其中τRλ是瑞利散射光学厚度，τgλ是气体吸收光学厚度，公式如下所示： 式中：λ——测量波长，单位：μm；m——大气光学质量；θ——太阳天顶角，单位：°；d0d2——日-地距离修正因子；3、根据步骤2公式得到的六个波段气溶胶光学厚度τaλ，对如下公式两边取对数，采用最小二乘法拟合得到指数α和大气浑浊度系数β，再根据如下公式得到0.532μm、0.55μm、0.589μm、1.064μm、1.315μm、1.54μm和3.8μm气溶胶光学厚度τaλ，公式为：τaλ＝βλ-α；4、利用实测的0.87μm、0.94μm、1.02μm三个波段太阳宽谱直接辐射反演得到水汽含量；5、根据透过率与光学厚度的关系式Taλ＝exp-τaλ，得到0.532μm、0.589μm、1.064μm、1.315μm、1.54μm和3.8μm激光波段气溶胶透过率Taλ，由于一定带宽的宽带和窄带中气溶胶透过率基本不变，故该透过率即激光波段气溶胶谱线透过率；6、用反演得到的水汽含量对当地大气模式的水汽廓线进行修正；7、将0.55μm气溶胶光学厚度、水汽总量、水汽廓线修正后的当地大气模式融入MODTRAN5.0源代码中，计算激光波段水汽透过率Tpwv窄、其他分子吸收透过率Tother窄及瑞利散射透过率Tscat窄；激光谱线透过率Tall窄λ即为激光波段气溶胶谱线透过率Taλ、水汽透过率Tpwv窄、其他分子吸收透过率Tother窄及瑞利散射透过率Tscat窄的综合。

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