恭喜深圳市创芯微微电子股份有限公司王蒙获国家专利权
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龙图腾网恭喜深圳市创芯微微电子股份有限公司申请的专利芯片老化测试装置及系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN219737687U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2023-09-22发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202223427613.2，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型芯片老化测试装置及系统是由王蒙;白青刚设计研发完成，并于2022-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片老化测试装置及系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开了芯片老化测试装置及系统，芯片老化测试装置包括温度控制模块、加热模块和测温模块。温度控制模块，与加热模块和测温模块相连，用于输出第一电信号至加热模块，输出第二电信号至测温模块。加热模块，用于装配在被测芯片上，根据第一电信号，对被测芯片进行加热。测温模块，用于装配在被测芯片上，根据第二电信号，对被测芯片进行测温，输出温度检测信号至温度控制模块，使加热模块根据第一电信号对被测芯片进行加热，而不会对测试板上的外围电路进行加热，从而使测试板上的外围电路可以稳定地工作，从而可以可靠地测试出被测芯片的老化结果，提高芯片老化测试的可靠性。
本实用新型芯片老化测试装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试装置，其特征在于，包括温度控制模块、加热模块和测温模块；所述温度控制模块，与所述加热模块和所述测温模块相连，用于输出第一电信号至所述加热模块，输出第二电信号至所述测温模块；所述加热模块，用于装配在被测芯片上，根据所述第一电信号，对所述被测芯片进行加热；所述测温模块，用于装配在被测芯片上，根据所述第二电信号，对所述被测芯片进行测温，输出温度检测信号至所述温度控制模块。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市创芯微微电子股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区宝荷大道76号智慧家园二期3A28楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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