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天津大学段发阶获国家专利权

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龙图腾网获悉天津大学申请的专利基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN108827448B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2023-09-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201810849420.5,技术领域涉及:G01H9/00;该发明授权基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统及方法是由段发阶;马凌;叶德超;傅骁;李杨宗设计研发完成,并于2018-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开了基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统及方法,包括平面反光镜和传感器,传感器由垂直腔面发射激光器和九个光电二极管组成,垂直腔面发射激光器和九个光电二极管均设置在硅基底上,光电二极管均分分布于两个以垂直腔面发射激光器为中心的同心圆上组成光电阵列,同心圆的内圈和外圈分别设有四个光电二极管,第九个光电二极管用于测量光电二极管和电路的暗噪声,每个光电二极管输出的光电流首先经过跨阻放大器转换为电压信号,后经一级低通滤波及电压放大电路和二级低通滤波及电压放大电路进行模拟滤波及电压放大,后通过模数转换器转换为数字信号,最后进入微处理器进行数字滤波、频率分析、振幅和倾角的计算,及数据上传。

本发明授权基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统及方法在权利要求书中公布了:1.基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量方法,基于平面反光镜和光电阵列的振动及倾角测量系统,包括平面反光镜和传感器,所述传感器由垂直腔面发射激光器和九个光电二极管组成,所述垂直腔面发射激光器和九个光电二极管均设置在硅基底上,所述光电二极管均分分布于两个以垂直腔面发射激光器为中心的同心圆上组成光电阵列,所述同心圆的内圈和外圈分别设有四个光电二极管,第九个光电二极管通过遮光处理用于测量无光条件下光电二极管和电路的暗噪声,每个光电二极管分别依次连接有跨阻放大器、一级低通滤波及电压放大电路和二级低通滤波及电压放大电路,二级低通滤波及电压放大电路均连接有模数转换器,模数转换器连接微处理器,每个光电二极管输出的光电流首先经过跨阻放大器转换为电压信号,后经一级低通滤波及电压放大电路和二级低通滤波及电压放大电路进行模拟滤波及电压放大,之后通过模数转换器转换为数字信号,最后进入微处理器进行数字滤波、频率分析、振幅和倾角的计算,以及数据上传;其特征在于,包括以下步骤:1分别对振动及倾角测量系统中的位移和倾角进行标定;并分别得到用于测量振动和测量倾角的标定曲线;2以最大振动测量频率fmax的5倍为采样频率fs,对内圈光电二极管对应的四路信号通道同步采样各1024个数据点,并对内圈光电二极管信号之和做快速傅里叶变换运算,得到被测物的振动频率f0;3重新设置采样频率fs为10倍振动频率f0,对所有光电二极管进行同步采样;4在内圈、外圈的八个光电二极管的信号中扣除第九个光电二极管测得的暗噪声,之后对内圈、外圈的八个光电二极管的信号进行低通滤波;5计算内圈其中两个相对称的光电二极管的光强之“差和比”,和另外两个相对称的光电二极管的光强之“差和比”,根据倾角的标定曲线计算被测物的二维倾角;6计算内圈四个光电二极管的信号之和sum1,以及外圈四个光电二极管的信号之和sum2,计算两个和的比值Ratio=sum1sum2;采集并计算10个Ratio值后,即采集满一个信号周期后,利用10个数据点中数值最大的数据点及其前后各一个数据点,拟合二次函数y=ax2+bx+c,根据韦达定理求得二次函数的最大值4ac-b24a,作为被测物单频正弦振动的极值点,根据振动的标定曲线求得振幅。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人天津大学,其通讯地址为:300072 天津市南开区卫津路92号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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