湖南国科微电子股份有限公司陈勇获国家专利权
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龙图腾网获悉湖南国科微电子股份有限公司申请的专利一种芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111737134B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2023-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010585168.9，技术领域涉及：G06F11/36；该发明授权一种芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质是由陈勇设计研发完成，并于2020-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质，涉及芯片测试技术领域。首先接收测试文件包与配置文件的参考类型，其中，测试文件包包括至少一个测试文件组；每个测试文件组均包括颜色文件，然后根据配置文件的参考模型，生成颜色文件对应的配置文件，再依据预设定程序和配置文件对每个颜色文件进行编码，以生成参考码流；利用待测试芯片和配置文件对每个颜色文件进行编码，以生成待测码流，最后将参考码流与待测码流进行比较，以确定待测试芯片是否合格。本发明提供的芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质具有提升了开发人员的工作效率及提升了测试效率的优点。
本发明授权一种芯片测试方法、装置、电子设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：接收测试文件包与配置文件的参考类型，其中，所述测试文件包包括至少一个测试文件组；每个所述测试文件组均包括颜色文件；根据配置文件的参考模型，生成所述颜色文件对应的配置文件；依据预设定程序和所述配置文件对每个所述颜色文件进行编码，以生成参考码流；利用待测试芯片和所述配置文件对每个所述颜色文件进行编码，以生成待测码流；其中，所述预设定程序为经过验证且能够编码出准确码流的程序；将所述参考码流与所述待测码流进行比较，以确定所述待测试芯片是否合格。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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