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龙图腾网获悉广船国际有限公司申请的专利一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112964212B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2023-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110336459.9，技术领域涉及：G01B21/08；该发明授权一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法是由陈澄设计研发完成，并于2021-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种涂层厚度检测仪及涂层厚度的检验方法，涂层厚度检测仪包括探头，探头包括胶体、位移传感器和若干测量体，测量体和位移传感器均设置在胶体上，测量体呈一字排列，测量体用于检测涂层的厚度，位移传感器用于检测测量体发生的位移大小。本发明的涂层厚度检测仪具有若干个呈一字排列的测量体，探头移动后可以对涂层区域进行较大范围的检测，改变了现有单点测量涂层厚度的方式，使得测量结果更加接近真实情况。本发明的涂层厚度的检验方法将测量数据导入三维坐标系中进行分析，能准确且直观地反映出所测量的涂层厚度与涂层设计厚度之间的差异，提高涂层厚度的检验效率和检验准确度。

本发明授权一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法在权利要求书中公布了：1.一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法，其特征在于，所述涂层厚度检测仪包括探头，所述探头包括胶体、位移传感器和若干测量体，所述测量体和所述位移传感器均设置在所述胶体上，所述测量体呈一字排列，所述测量体用于检测涂层的厚度，所述位移传感器用于检测所述测量体沿着涂层表面发生的位移大小，每个所述测量体每移动单位距离测量一次涂层的厚度，生成一个数据点；所述涂层厚度检测仪还包括壳体、连接线、显示屏、数据线和电路板，所述电路板设置在所述壳体内部，所述探头通过所述连接线与所述电路板连接，所述显示屏设置在所述壳体表面，所述数据线与所述电路板连接并穿出所述壳体，所述壳体上开设有用于放置所述探头的收纳槽；所述涂层厚度的检验方法包括如下步骤：S1.使所述探头接触涂层表面，移动所述探头，每个所述测量体每移动单位距离测量一次涂层的厚度，生成一个数据点，每个所述测量体生成的所有数据点形成一组测量数据，所述探头经过的涂层表面区域为一个测量带；S2.建立三维坐标系，将各个所述测量体生成的测量数据输入所述三维坐标系中，所述三维坐标系的X轴用于表示所述测量体的位移，各个测量体的测量数据沿Y轴方向等间距排列，Z轴用于表示所述测量体测得的涂层厚度的数值，连接各组测量数据，在所述三维坐标系中生成反应涂层厚度的曲面；S3.在所述三维坐标系中引入代表涂层设计厚度的第一平面，计算位于所述第一平面下方的数据点的个数，判断涂层的厚度是否合格；所述测量带的数量根据检验区域的面积确定，所述测量带的数量至少为两条；如果同一检验区域中出现一条所述测量带的数据不合格，在所述检验区域选择不同位置重新测量，若重新测量的数据仍显示不合格，则判定所述检验区域的涂层厚度不合格，需要处理；若重新测量的数据显示合格，则判定所述检验区域的涂层厚度合格；如果同一检验区域中出现两条或两条以上所述测量带的数据不合格，则直接判定所述检验区域的涂层厚度不合格。

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