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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第十三研究所申请的专利可见光热反射测温方法及测温设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113790818B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2023-09-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110913427.0，技术领域涉及：G01K11/12；该发明授权可见光热反射测温方法及测温设备是由翟玉卫;默江辉;王强栋;刘岩;李灏;丁立强;荆晓冬;丁晨设计研发完成，并于2021-08-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本可见光热反射测温方法及测温设备在说明书摘要公布了：本发明适用于微电子测温技术领域，提供了一种可见光热反射测温方法及测温设备，上述方法包括：控制待测件的温度稳定在第一预设温度，并采集待测件的反射率，作为第一反射率；控制待测件的温度升高并稳定在第二预设温度，并采集待测件的反射率，作为第二反射率；控制待测件的温度降低并稳定在第一预设温度，将待测件通电，待待测件的温度稳定后，采集通电待测件的反射率，作为第三反射率；根据第一反射率对第三反射率进行校正，得到校正后的第三反射率；根据第一反射率、第二反射率及校正后的第三反射率确定待测件的温度变化量。本发明采用不通电时的第一反射率对通电后的第三反射率进行校正，可以有效消除随机干扰，提高了测量精度。

本发明授权可见光热反射测温方法及测温设备在权利要求书中公布了：1.一种可见光热反射测温方法，其特征在于，包括：控制待测件的温度稳定在第一预设温度，并采集所述待测件的各个像素点的反射率，作为各个像素点的第一反射率；控制所述待测件的温度升高并稳定在第二预设温度，并采集所述待测件的各个像素点的反射率，作为各个像素点的第二反射率；控制所述待测件的温度降低并稳定在所述第一预设温度，将所述待测件通电，待所述待测件的温度稳定后，采集通电待测件的各个像素点的反射率，作为各个像素点的第三反射率；针对每个像素点，根据该像素点的第一反射率对该像素点的第三反射率进行校正，得到该像素点校正后的第三反射率；针对每个像素点，根据该像素点的第一反射率、该像素点的第二反射率及该像素点校正后的第三反射率确定该像素点的温度变化量；所述根据该像素点的第一反射率对该像素点的第三反射率进行校正，得到该像素点校正后的第三反射率，包括：确定该像素点的第一反射率是否小于预设阈值；若该像素点的第一反射率小于所述预设阈值，则将该像素点的第三反射率替换为该像素点的第一反射率，得到该像素点校正后的第三反射率。

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