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龙图腾网获悉南通大学申请的专利一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112926716B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2024-07-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110213106.X，技术领域涉及：G06K19/077；该发明授权一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法是由张永伟;施佺;吕先洋;孙美;武强;许致火;施佳佳设计研发完成，并于2021-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置，包括正交极化排列或者并排排列的射频标签即射频标签阵列，频谱仪，所述射频标签内包括天线和射频芯片，射频标签充电后发射信号，频谱仪或者射频接收机收集阵列中各个射频标签产生的回波射频信号并进行分析和处理。本发明的一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置，通过使用射频标签阵列，有效克服了从单个射频标签的回波射频信号无法提取所附着物品足够信息的缺陷。射频标签阵列不同的阵列组合可以适应对不同物品无损监测的需求，同时通过个性化的射频标签天线的设计和组阵，改善对有些物品通过单个射频标签无法进行有效质量监测的状况。

本发明授权一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的方法，其特征在于，包括正交极化排列或者并排排列的射频标签即射频标签阵列，频谱仪，所述射频标签内包括天线和射频芯片，射频标签充电后发射信号，频谱仪或者射频接收机收集阵列中各个射频标签产生的回波射频信号并进行分析和处理；在阵列中，射频标签天线之间的距离不大于射频标签工作频率的半波长；所述方法包括如下步骤：步骤1、使用射频标签阵列通过对大量不同物质的测量建立对应物质的频谱特性库；步骤2、根据待检测物品的特性确定射频天线阵列的配置；步骤3、根据射频标签阵列的设置重新优化天线结构；步骤4、在用于验证和机器学习的物品上贴上射频标签阵列；步骤5、实测并建立用于检测的机器学习模型，机器学习模型能够自动分析物品质量，通过反馈不断的提高机器模型物品检测的准确率；步骤6、在待检测物品上贴上射频标签阵列，射频标签阵列充电发射信号；步骤7、频谱仪捕获射频标签阵列中每个射频标签天线发射的射频信号并综合分析其特征，射频标签之间的互耦是通过承载标签的载体实现，载体物品的电特性会影响每个射频标签天线发射信号的频谱，综合多个射频标签天线发射信号的特征能更好的提取与承载物品有关的信息；步骤8、检测模型确定检测结果。

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