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龙图腾网恭喜中国科学院新疆理化技术研究所申请的专利一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115113012B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816891.2，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法是由李小龙;王信;刘默寒;于新;郑齐文;孙静;李豫东;郭旗;陆妩设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法，该方法利用温度阶梯辐照识别双极工艺器件的低剂量率损伤增强（ELDRS）效应，并将氢注入作为复合环境地面模拟试验的加速条件，基于辐射损伤因子的表征，对于具有低剂量率损伤增强（ELDRS）倾向的器件进行加速模拟试验，解决高剂量率模拟试验存在的过于低估器件抗辐射性能的问题，对于低剂量率损伤增强（ELDRS‑fre）免疫的器件进行高剂量率注量率的辐照试验，避免加速模拟试验带来的过于高估器件抗辐射性能的问题，基于氢注入浓度和辐照剂量率的匹配关系，提取加速评估的试验条件，实现双极器件在复合环境下的加速评估，兼顾位移损伤效应和ELDRS效应。本发明所述方法可缩短试验周期、节约成本及提高器件抗辐射性能评估的可靠性。

本发明授权一种含有长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法在权利要求书中公布了：1.一种含长期低剂量率辐照的复合环境试验加速方法，其特征在于，按下列步骤进行：a、样品初测及去封装处理：首先将双极样品进行电参数测试，然后将双极样品去除封装，再对样品进行电参数测试，样品去除封装前后双极样品电参数保持一致；b、独立的电离总剂量辐照试验：将步骤a中处理后的样品进行独立的60Co-γ射线电离总剂量辐照试验，包括温度阶跃辐照试验、氢注入辐照试验，及室温高剂量率辐照试验，其中温度阶跃辐照试验中采用剂量率范围为2-5radSis，温度范围为120-80℃，氢注入辐照试验中采用剂量率范围为10-50radSis，室温高剂量率辐照试验中采用剂量率范围为50-300radSis；c、辐照结束后进行电参数测试、数据处理，损伤增强因子计算及低剂量率损伤增强效应识别；d、加速辐照条件提取：基于步骤b中温度阶跃辐照试验和氢注入辐照试验条件下的辐射损伤，通过氢注入浓度和辐照剂量率的匹配关系，获得复合环境下器件加速评估的试验条件，包括氢注入浓度和剂量率注量率；e、复合环境或单一带电粒子的地面模拟试验：若步骤c中识别为低剂量率损伤增强效应样品，选取同批次样品，重复步骤a，依据步骤d中获得的辐照试验条件，进行60Co-γ-中子复合环境或单一带电粒子的地面模拟试验，带电粒子为电子、质子；f、若步骤c中识别为低剂量率损伤增强免疫的样品，选取同批次样品，重复步骤a，进行60Co-γ-中子复合环境或单一带电粒子的地面模拟试验，带电粒子为电子、质子。

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