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龙图腾网恭喜深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利一种检测设备及其对准方法和检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113514478B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010276626.0，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权一种检测设备及其对准方法和检测方法是由陈鲁;黄有为设计研发完成，并于2020-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种检测设备及其对准方法和检测方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种光学设备的对准方法，该检测设备包括光源和探测装置，探测装置包括第一探测器和镜头，该对准方法包括：通过光源向待测对象发射检测光，检测光在待测对象表面形成检测光斑，使检测光斑经待测对象表面形成第一信号光；第一探测器的感光面经镜头在待测对象表面形成第一探测区，使第一探测装置收集不同位置关系下的第一探测区的第一信号光；根据第一信号光获取不同位置关系下的第一信号光的光强度；获取第一信号光具有最大光强度时的位置关系作为对准位置，其中，位置关系为检测光斑与第一探测区的相对位置；将第一探测区与检测光斑的位置关系调整为对准位置。通过以上设置，可快速、准确获取对准位置，提高光学设备检测精度。

本发明授权一种检测设备及其对准方法和检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光学设备的对准方法，所述光学设备包括光源和探测装置，所述探测装置包括第一探测器和镜头，其特征在于，所述对准方法包括：通过所述光源向待测对象发射检测光，所述检测光在所述待测对象的表面形成检测光斑，使所述检测光斑经所述待测对象表面形成第一信号光；所述第一探测器的感光面经所述镜头在所述待测对象表面形成第一探测区，使所述第一探测器收集不同位置关系下的所述第一探测区的所述第一信号光；根据所述第一信号光，获取不同位置关系下的所述第一信号光的光强度；获取所述第一信号光具有最大光强度时的位置关系作为对准位置，其中，所述位置关系为所述检测光斑与所述第一探测区的相对位置；将所述第一探测区与所述检测光斑的位置关系调整为所述对准位置；所述位置关系包括：所述检测光斑与所述第一探测区沿第一方向的相对位置；所述检测光斑沿所述第一方向的尺寸大于所述第一探测区沿所述第一方向的尺寸；所述位置关系还包括：所述检测光斑与所述第一探测区沿第二方向的相对位置，所述第二方向与所述第一方向不平行；所述检测光斑沿所述第二方向的尺寸大于所述第一探测区沿所述第二方向的尺寸。

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