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龙图腾网恭喜西安交通大学申请的专利绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115829931B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211314962.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法是由任明;李乾宇;夏昌杰;董明设计研发完成，并于2022-10-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法在说明书摘要公布了：一种绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法，开启光源并根据待评估的绝缘子表面光反射情况调节光照强度和角度，平行光到达待评估绝缘子表面并产生反射光，利用多波段图像采集模块采集绝缘子表面反射光的多波段图像像素点x，y亮度值，构建污秽状态评估所需特征向量；构建绝缘子污秽光谱信息关联数据库，依靠数据库建立基于随机漫步搜寻的绝缘子污秽状态评估分类模型；对于未知污秽程度的待评估绝缘子，获得其在测量空间坐标范围内所有坐标点的污秽状态特征向量构成样本集，利用当前性能最优的分类模型对该样本集进行分类预测，利用评估结果可视化模块将污秽程度预测值空间矩阵通过伪彩色的方式进行图像重构，可视化绝缘子污秽状态评估结果。

本发明授权绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法在权利要求书中公布了：1.一种绝缘子污秽状态的多波段光学评估方法，其特征在于，其包括以下步骤，步骤1，开启光源并根据待评估的绝缘子表面光反射情况调节光照强度和角度，平行光到达待评估绝缘子表面并产生反射光，采用多波段图像采集绝缘子表面反射光的多波段图像像素点x,y亮度值，记录m个波段的图像的像素点x,y亮度值分别为、、…、；步骤2，对像素点x,y处所获得的亮度值进行反射率转换处理，分别采集已知反射率为的灰板在波段处的像元亮度值、、…、，可获得多波段图像采集的光电转换器件的像素点x,y处波段为的反射率值，其余波段的反射率值同理可得，对m个波段在像素点x,y处的光谱反射率值两两相除，进而构建出维的向量作为后续进行污秽状态评估的特征向量；步骤3，对已知污秽程度的绝缘子重复步骤1-2，获得与污秽程度相对应的光谱信息，构建绝缘子污秽光谱信息关联数据库，其中每一条数据样本包括绝缘子污秽状态的特征向量和所对应的污秽程度标签数据，其中，0-4为五个污秽等级，依靠绝缘子污秽光谱信息关联数据库建立基于随机漫步搜寻的绝缘子污秽状态评估分类模型，在设置绝缘子污秽状态评估分类模型中的超参数值时，采用随机漫步搜寻的方式获取最优组合；步骤4，对于未知污秽程度的待评估绝缘子重复步骤1-2，获得其在测量空间坐标范围内所有坐标点的污秽状态特征向量构成样本集，利用当前性能最优的绝缘子污秽状态评估分类模型对所述样本集进行分类预测，得到测量空间坐标范围内所有坐标点的污秽程度预测值，将污秽程度预测值空间矩阵利用伪彩色的方式进行图像重构，可视化绝缘子污秽状态评估结果。

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