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龙图腾网恭喜北京遥感设备研究所申请的专利一种高可靠光学系统优化设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114398774B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111681340.1，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种高可靠光学系统优化设计方法是由戴瀛;胡航;张会平;童雨;许鹏设计研发完成，并于2021-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高可靠光学系统优化设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种高可靠光学系统优化设计方法，包括：开展光学结构和光学元件力热仿真分析，求得光学结构的强度分布和最大应力分布；同时，求得光学元件尺寸变化的频数分布和累计频率分布，并记录仿真的总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数；根据光学结构强度分布和最大应力分布，计算光学结构可靠度；同时，根据光学元件仿真总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数，计算光学元件可靠度；利用光学结构可靠度和光学元件可靠度，计算光学系统的可靠度，本发明一方面，给出了光学系统可靠度的定量评估，量化指导光学系统可靠性的设计提高；另一方面，给出了针对光学系统各组成部分以及各组成部分之间设计匹配性的验证试验。

本发明授权一种高可靠光学系统优化设计方法在权利要求书中公布了：1.一种高可靠光学系统优化设计方法，其特征在于，包括：步骤一，开展高可靠光学系统优化设计，形成设计方案；步骤二，以设计方案为输入，开展光学结构和光学元件力热仿真分析，将光学系统的外部受力，光学结构的模型和材料参数，代入仿真软件，通过反复抽样仿真计算，求得光学结构的强度分布和最大应力分布；同时，将光学系统的外部热环境，光学元件的模型和材料参数，代入仿真软件，通过反复抽样仿真计算，求得光学元件尺寸变化的频数分布和累计频率分布，并记录仿真的总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数；步骤三，根据光学结构强度分布和最大应力分布，计算光学结构可靠度；同时，根据光学元件仿真总次数和光学元件尺寸变化满足要求的次数，计算光学元件可靠度；步骤四，利用光学结构可靠度和光学元件可靠度，计算光学系统的可靠度；步骤五，根据光学系统设计要求判断光学系统可靠度是否满足需求，如不满足重复进行步骤一到步骤五；如满足，则开展试验验证；步骤六，对光学系统开展试验验证；步骤七，根据试验结果判断光学系统是否通过验证试验，如不通过重复进行步骤一到步骤七；如通过，则保存并固化光学系统设计。

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