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龙图腾网恭喜上海壁仞科技股份有限公司申请的专利芯片优化方法及装置、电子设备与存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117556756B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311570185.5，技术领域涉及：G06F30/337；该发明授权芯片优化方法及装置、电子设备与存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片优化方法及装置、电子设备与存储介质在说明书摘要公布了：一种芯片优化方法及装置、电子设备与存储介质。该芯片优化方法包括：获取人工智能模型，其中，人工智能模型包括多个融合算子，多个融合算子包括目标融合算子；选取芯片的第一架构参数和应用于目标融合算子的多个优化策略；基于第一架构参数，分别计算目标融合算子在应用多个优化策略中的每个优化策略时的设备端耗时；响应于目标融合算子在应用多个优化策略中的第一优化策略时的设备端耗时最小，选取第一优化策略作为目标融合算子在第一架构参数下的目标优化策略。该芯片优化方法可以快速评估芯片的预期性能，提高了芯片的评估和验证效率。

本发明授权芯片优化方法及装置、电子设备与存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片优化方法，用于在所述芯片出厂前优化对应于所述芯片的人工智能模型的性能，其中，所述芯片优化方法包括：获取所述人工智能模型，其中，所述人工智能模型包括多个融合算子，所述多个融合算子包括目标融合算子；选取所述芯片的第一架构参数和应用于所述目标融合算子的多个优化策略；基于所述第一架构参数，分别计算所述目标融合算子在应用所述多个优化策略中的每个优化策略时的设备端耗时；响应于所述目标融合算子在应用所述多个优化策略中的第一优化策略时的设备端耗时最小，选取所述第一优化策略作为所述目标融合算子在所述第一架构参数下的目标优化策略，其中，所述目标融合算子包括多个单算子，所述多个优化策略包括第1个优化策略至第N个优化策略，其中，N为正整数，所述基于所述第一架构参数，分别计算所述目标融合算子在应用所述多个优化策略中的每个优化策略时的设备端耗时，包括：将所述目标融合算子拆解成所述多个单算子；基于所述第一架构参数，计算所述多个单算子在应用所述多个优化策略中的第i个优化策略时的耗时，其中，i＝1,2,…,N；将所述多个单算子在应用所述第i个优化策略时的多个耗时进行合并，得到所述目标融合算子在应用所述第i个优化策略时的设备端耗时。

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