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龙图腾网恭喜中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716963B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510230769.0，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质是由任宽;任国利;刘杰;杜华冰;刘云婷;赵航;刘耀远;董建军;杨正华;郑建华;姚立;孙奥;邓克立;杨冬;李志超;吴玉迟;王峰设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开一种ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质，包括：在ICF激光打靶实验中，采用两套空间分辨辐射流探测设备分别同时测量黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流；构建与在ICF激光打靶实验中使用的黑腔相同的黑腔模型；将测量得到的所述黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流以及朗伯体发射性质赋予所述黑腔模型内壁相应区域；在所述黑腔模型内，通过视角因子对所述黑腔模型的待测再发射区的入射X射线辐射流求和，得到所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流；根据所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流和测量得到的再发射区的X射线辐射流，得到黑腔壁反照率。本发明不改变黑腔结构，所测量反照率结果准确。

本发明授权ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质在权利要求书中公布了：1.一种ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法，其特征在于，包括：在ICF激光打靶实验中，采用两套空间分辨辐射流探测设备分别同时测量黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流；构建与在ICF激光打靶实验中使用的黑腔相同的黑腔模型；将测量得到的所述黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流以及朗伯体发射性质赋予所述黑腔模型内壁相应区域；在所述黑腔模型内，通过视角因子对所述黑腔模型的待测再发射区的入射X射线辐射流求和，得到所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流；根据所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流和测量得到的再发射区的X射线辐射流，得到黑腔壁反照率；通过视角因子对所述黑腔模型的待测再发射区的入射X射线辐射流求和，包括： 其中，表示所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流，表示所述黑腔模型的待测再发射区的面元数量，表示所述黑腔模型的待测再发射区的面元的入射X射线辐射流，表示所述黑腔模型的待测再发射区的面元的面积，表示所述黑腔模型中除了待测再发射区以外的再发射区的面元数量，表示光斑区的面元数量，、分别表示光斑区和再发射区的X射线辐射流，、分别表示光斑区的面元和除了待测再发射区以外的再发射区的面元的面积，、表示视角因子。

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