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龙图腾网恭喜山东大学申请的专利一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119028459B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411168269.0，技术领域涉及：G16C10/00；该发明授权一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法是由满佳;宋鑫忠;李建勇;张永琪;崔光辉设计研发完成，并于2024-08-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法，包括如下步骤：构建两性离子聚合物刷涂层模型，并对模型进行模型设置；采用MD法模拟计算两性离子聚合物刷涂层模型内的原子运动与分布，记录每个模拟时刻下各原子位置与速度信息，直至获取设定条件下长时间模拟的原子轨迹信息；根据计算获取的原子速度与位置信息，分析获取两性离子聚合物刷涂层模型的结构参数，包括两性离子聚合物刷涂层链与链之间的缔合情况以及聚合物链的迁移率信息。

本发明授权一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法在权利要求书中公布了：1.一种模拟量化两性离子聚合物刷涂层链间缔合及链迁移性的方法，其特征在于：包括如下步骤：构建两性离子聚合物刷涂层模型，并对模型进行模型设置；采用MD法模拟计算两性离子聚合物刷涂层模型内的原子运动与分布，记录每个模拟时刻下各原子位置与速度信息，直至获取设定条件下长时间模拟的原子轨迹信息；根据计算获取的原子速度与位置信息，分析获取两性离子聚合物刷涂层模型的结构参数，包括两性离子聚合物刷涂层链与链之间的缔合情况以及聚合物链的迁移率信息；所述两性离子聚合物刷涂层模型的基底为硅基底，两性离子聚合物的一段固定在硅基底上，且垂直于硅基底排布；两性离子聚合物链的长度可控，以模拟两性离子聚合物刷涂层厚度对链间缔合及聚合物刷涂层链的迁移率的影响；两性离子聚合物的链间距可控，以模拟两性离子聚合物刷涂层接枝密度对链间缔合及聚合物刷涂层链的迁移率的影响；模型设置时，模拟体系的X，Y，Z三个边界均设置为周期性边界，短程Lennard-Jones相互作用的截止距离设为时间步长为2fs；能量最小化进行50000步，以消除不良接触，降低体系能量；弛豫时间不低于2ns；采用MD法模拟计算两性离子聚合物刷涂层模型内的原子运动与分布时，模拟时间不低于30ns；进行分析时，统计两性离子聚合物单体的季氨基上碳原子和阴离子基团上的氧原子之间的距离来表征两性离子聚合物刷涂层中两性离子聚合物的链间缔合；当两性离子聚合物单体的季氨基上碳原子和阴离子基团上的氧原子之间的距离小于同一两性离子单体的季氨基上碳原子和阴离子基团上的氧原子的距离时，则出现链间缔合；在进行分析时，统计模拟过程中两性离子聚合物刷涂层中两性离子聚合物链的顶端两性离子单体的质心在X-Y截面上的位置分布，以表征聚合物刷涂层链的迁移率；以一个圆形区域覆盖住X-Y平面上90％的分布点，该圆的半径定义为分布半径，分布半径越大则迁移率越高。

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