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龙图腾网恭喜深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种显示屏重复缺陷检测的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119444754B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510038254.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种显示屏重复缺陷检测的方法、装置及存储介质是由刘勇;杨硕设计研发完成，并于2025-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种显示屏重复缺陷检测的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种显示屏重复缺陷检测的方法、装置及存储介质，用于提高显示屏缺陷的检出效率。对采集到的显示屏图像进行一致性预处理；对所述显示屏图像进行点线区块mura缺陷提取处理，并进行缺陷区域分割提取处理，生成点线区块缺陷区域；对所述点线区块缺陷区域进行blob分析，生成缺陷特征信息；根据所述缺陷特征信息的纵横比AR值和缺陷位置信息对点线区块缺陷区域进行区域合并；针对同一片ID的若干张显示屏图像，根据每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域邻接匹配度与欧式距离计算几何位置邻接匹配度；根据所述几何位置邻接匹配度进行显示屏过检分析处理。

本发明授权一种显示屏重复缺陷检测的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种显示屏重复缺陷检测的方法，其特征在于，包括：对采集到的显示屏图像进行一致性预处理；对所述显示屏图像进行点线区块mura缺陷提取处理，并进行缺陷区域分割提取处理，生成点线区块缺陷区域；对所述点线区块缺陷区域进行blob分析，生成缺陷特征信息；根据所述缺陷特征信息的纵横比AR值和缺陷位置信息对点线区块缺陷区域进行区域合并；针对同一片ID的若干张显示屏图像，根据每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域邻接匹配度与欧式距离计算几何位置邻接匹配度；根据所述几何位置邻接匹配度进行显示屏过检分析处理；针对不同ID的若干张显示屏图像，计算每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域的几何位置关系信息与缺陷特征关系信息，所述几何位置关系信息为欧氏距离信息；针对不同ID的若干张显示屏图像，计算每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域的几何位置关系信息与缺陷特征关系信息，包括：针对不同ID的若干张显示屏图像，计算每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域的欧氏距离信息；根据每两张显示屏图像上的两个点线区块缺陷区域的圆度计算值、对比度计算值和纹理特征计算值计算缺陷特征关系信息；根据所述几何位置关系信息与所述缺陷特征关系信息进行显示屏批量异常检测。

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