中国科学院长春光学精密机械与物理研究所杨小虎获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119533659B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411669314.0，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法是由杨小虎;马翼;黄煜;李占峰;李乐设计研发完成，并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，属于校正方法技术领域。解决了现有技术中在轨仪器衰减校正方法操作繁琐、成本高等问题。本发明的方法，先在暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，使用汞灯对仪器进行照射，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱；然后以最长波长下的汞灯特征辐射光谱为基准，对各波长下的汞灯特征辐射光谱进行归一化处理，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例；最后将各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例的衰减量视为仪器的衰减量，完成仪器的衰减校正。该方法成本低、效率高，能够拓展衰减校正的方法，为衰减校正提供更多思路。
本发明授权一种利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法在权利要求书中公布了：1.利用汞灯谱线相对比例校正仪器衰减的方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、在暗环境，且温度、电压、汞蒸气压强不变的条件下，使用汞灯对仪器进行照射，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱；步骤二、以最长波长下的汞灯特征辐射光谱为基准，对各波长下的汞灯特征辐射光谱进行归一化处理，得到各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例；步骤三、将各波长下的汞灯特征辐射光谱的辐射相对比例的衰减量视为仪器的衰减量，完成仪器的衰减校正。
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