浙江华睿科技股份有限公司许文夏获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江华睿科技股份有限公司申请的专利缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114897806B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210457602.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质是由许文夏;周璐;李晶设计研发完成，并于2022-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。该方法包括：确定目标对象的待检测图像中的候选缺陷区域；对候选缺陷区域进行分类，得到缺陷分类结果；判断缺陷分类结果是否能够用于确定目标对象的缺陷类别；响应于缺陷分类结果不能用于确定目标对象的缺陷类别，将候选缺陷区域的特征与各候选缺陷类别的模板特征进行比对，以确定目标对象的缺陷类别。通过上述方式，能够提高目标对象的缺陷类别的准确度。
本发明授权缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：确定目标对象的待检测图像中的候选缺陷区域；对所述候选缺陷区域进行分类，得到缺陷分类结果；判断所述缺陷分类结果是否能够用于确定所述目标对象的缺陷类别；响应于所述缺陷分类结果不能用于确定所述目标对象的缺陷类别，将所述候选缺陷区域的特征与各候选缺陷类别的模板特征进行比对，以确定所述目标对象的缺陷类别；所述将所述候选缺陷区域的特征与各候选缺陷类别的模板特征进行比对，以确定所述目标对象的缺陷类别，包括：获取所述候选缺陷区域的特征与所述各候选缺陷类别的模板特征之间的区域相似度；判断在所述各候选缺陷类别中是否存在目标候选缺陷类别，所述目标候选缺陷类别的模板特征对应的所述区域相似度满足相似度要求；响应于存在所述目标候选缺陷类别，确定所述目标对象的缺陷类别为所述目标候选缺陷类别；响应于不存在所述目标候选缺陷类别，确定所述目标对象的缺陷类别为待定类别。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江华睿科技股份有限公司，其通讯地址为：310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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