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龙图腾网获悉武汉万集光电技术有限公司申请的专利一种双光频梳测距系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116379944B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111604613.2，技术领域涉及：G01B11/14；该发明授权一种双光频梳测距系统及方法是由张磊;胡攀攀;徐威设计研发完成，并于2021-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种双光频梳测距系统及方法在说明书摘要公布了：本申请适用于双光频梳测距技术领域，提供一种双光频梳测距系统及方法，双光频梳测距系统包括第一光频梳、第二光频梳、第一环形器、第二环形器、第三环形器、色散模块、第一耦合器及第二耦合器。本申请通过色散模块对第一光频梳和第二光频梳进行时域拉伸，消除了传统双光频梳测距系统中非模糊测量范围与测量速率的相互制约，在保证系统具有较大的测量范围的前提下提升了测量速率；同时，借助时域拉伸，系统的直接测量维度由时域转换到频域，使得系统的测量精度不随时域拉伸过程中光脉冲的展宽而劣化，实现了大范围、高速率以及高精度的双光频梳距离测量。

本发明授权一种双光频梳测距系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种双光频梳测距系统，其特征在于，包括第一光频梳、第二光频梳、第一环形器、第二环形器、第三环形器、色散模块、第一耦合器及第二耦合器；所述第一光频梳用于以第一预设重复频率产生参考光信号，所述参考光信号经由所述第一环形器传输至所述色散模块进行时域拉伸后、经由所述第二环形器传输至所述第二耦合器；所述第二光频梳用于以第二预设重复频率产生测量光信号，所述测量光信号经由所述第二环形器传输至所述色散模块进行时域拉伸后，依次经由所述第一环形器和所述第三环形器传输至所述第一耦合器，再经由所述第一耦合器分束后分别传输至反射镜和待测物体，所述第一预设重复频率和所述第二预设重复频率之间具有预设失谐量；所述反射镜反射的第一反射光信号和所述待测物体反射的第二反射光信号经由所述第一耦合器合束后，经由所述第三环形器传输至所述第二耦合器；所述参考光信号、所述第一反射光信号及所述第二反射光信号在所述第二耦合器中发生干涉产生干涉光信号后、传输至测量设备；所述测量设备用于测量所述干涉光信号的时域信息。

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