华为技术有限公司陈秀波获国家专利权
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龙图腾网获悉华为技术有限公司申请的专利差错检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115733605B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111016798.5，技术领域涉及：H04L9/08；该发明授权差错检测方法及装置是由陈秀波;赵立云;徐刚;付洁;缪丽华;潘兴博;陈思怡;程振文设计研发完成，并于2021-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本差错检测方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种差错检测方法及装置，属于量子计算技术领域。本申请通过在测量稳定子生成元的量子电路中，将稳定子生成元分为两种类型—X型和Z型分别检测差错，并添加flag粒子来检测量子电路中由于量子门引入的X差错和Z差错，仅使用四个辅助粒子实现检错功能和容错功能，因此大大降低了辅助粒子的开销。此外，由于将稳定子生成元分为两种类型分别测量，并且这两种类型的算子对应的量子门作用在不同的辅助位上，所以减少了错误在编码块上的传播。此外，该方法应用于一般的量子稳定子码。
本发明授权差错检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种差错检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取编码块，所述编码块对应稳定子码的生成元可拆分成X算子和Z算子；通过量子电路对所述编码块进行检测，得到第一检测结果，所述量子电路包括第一辅助粒子、第二辅助粒子和量子门集合，所述第一辅助粒子用于对所述X算子进行检测，所述第二辅助粒子用于对所述Z算子进行检测，所述量子门集合包括第一量子门和第二量子门，所述第一量子门用于使所述X算子和所述第一辅助粒子建立量子纠缠关系，所述第二量子门用于使所述Z算子和所述第二辅助粒子建立量子纠缠关系；使用验证块对所述量子电路进行检测，得到第二检测结果，所述验证块包括第一标记flag粒子和第二flag粒子，所述第一flag粒子用于检测所述量子门集合是否为所述编码块引入了比特翻转差错，所述第二flag粒子用于检测所述量子门集合是否为所述编码块引入了相位翻转差错；根据所述第一检测结果以及所述第二检测结果，确定所述编码块是否发生差错以及差错的类型。
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