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龙图腾网获悉德州仪器公司申请的专利使用内置自测控制器测试只读存储器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112912958B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201980070484.8，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权使用内置自测控制器测试只读存储器是由P·纳拉亚南;N·纳雷什;P·T·印乌甘狄;R·C·屋良维阿西娜哈利;A·阿查里雅;J·辛格;N·A·纳拉亚南设计研发完成，并于2019-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本使用内置自测控制器测试只读存储器在说明书摘要公布了：一种系统包含易失性存储装置106、只读存储器ROM104、存储器内置自测BIST控制器110及中央处理单元CPU102。所述CPU102在发生复位事件后即刻执行来自所述ROM104的第一指令，以致使所述CPU102将指令从所述ROM104中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置106。所述CPU102还执行来自所述ROM104的第二指令以改变程序计数器。所述CPU102进一步使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置106的所述指令。所述CPU102在执行来自所述易失性存储装置106的所述指令时，致使所述ROM104进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器110经配置以测试所述ROM104。

本发明授权使用内置自测控制器测试只读存储器在权利要求书中公布了：1.一种存储器系统，其包括：易失性存储装置；只读存储器ROM，其经配置以存储指令；存储器内置自测控制器；及中央处理单元CPU，其经配置以在发生初始化事件后即刻：执行来自所述ROM的第一指令以致使所述CPU将多个指令从所述ROM中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置；执行来自所述ROM的第二指令以将程序计数器的值改变为对应于所述易失性存储装置内的在所述多个指令的开始处的地址；使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置的所述多个指令，所述CPU在执行所述多个指令时，致使所述ROM进入测试模式且致使所述存储器内置自测控制器经配置以测试所述ROM，所述多个指令包括用以在所述ROM测试之后将所述程序计数器的所述值改变为与在所述ROM内的所述多个指令的末尾之后的在所述ROM内的地址对应的指令；及执行来自所述ROM的指令以确定所述ROM是否通过了由所述存储器内置自测控制器执行的测试。

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