福建星云电子股份有限公司刘作斌获国家专利权
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龙图腾网获悉福建星云电子股份有限公司申请的专利一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115774209B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211423294.X，技术领域涉及：G01R31/385；该发明授权一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质是由刘作斌;李生草;倪政平;刘维新设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明提供了电芯DCIR测试技术领域的一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质，方法包括如下步骤：步骤S10、上位机配置DCIR测试工步，并将所述DCIR测试工步发送给中位机；步骤S20、中位机解析接收的所述DCIR测试工步，得到测试参数并发送给下位机；步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换；步骤S40、中位机基于所述DCIR测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值。本发明的优点在于：极大的提升了DCIR测试精度。
本发明授权一种电芯DCIR测试方法、系统、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种电芯DCIR测试方法，其特征在于：包括如下步骤： 步骤S10、上位机配置DCIR测试工步，并将所述DCIR测试工步发送给中位机；所述DCIR测试工步包括第一工步和第二工步；所述第一工步执行完成之后执行第二工步； 所述第一工步具体为：以电流I1控制电芯进行时长为Tr1的充放电，并在时长为Tc1时进行采样；所述Tr1大于Tc1； 所述第二工步具体为：以电流I2控制电芯进行时长为Tr2的充放电，并在时长为Tc2时进行采样；所述Tr2大于Tc2； 步骤S20、中位机解析接收的所述DCIR测试工步，得到测试参数并发送给下位机； 步骤S30、下位机基于接收的所述测试参数自动控制电芯进行充放电和工步切换； 步骤S40、中位机基于所述DCIR测试工步从下位机采集充放电数据，基于所述充放电数据计算DCIR值。
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