恭喜合肥智芯半导体有限公司;苏州萨沙迈半导体有限公司李远获国家专利权
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龙图腾网恭喜合肥智芯半导体有限公司;苏州萨沙迈半导体有限公司申请的专利用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222996768U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520824873.8,技术领域涉及:H05K1/18;该实用新型用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置是由李远;盖晓峰设计研发完成,并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置在说明书摘要公布了:本实用新型涉及集成电路测试技术领域,公开了一种用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置,集成电路包括天目芯片和与天目芯片连接的外围器件,PCB板包括PCB板本体,PCB板本体的第一表面用以设置与天目芯片连接的第一测试座,PCB板本体的第二表面用以设置外围器件,第一测试座与外围器件通过设置在PCB板本体第一表面和第二表面的走线连接,外围器件所在区域与第一测试座所在区域相对设置。PCB板将第一测试座设置在PCB板本体的第一表面,与天目芯片连接的外围器件设置在PCB板本体的第二表面,并将外围器件所在区域与第一测试座所在区域相对设置,可极大地减少由于第一测试座封装过大而导致的PCB板体积变大,PCB走线过长的问题,有效防止测试结果失真。
本实用新型用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置在权利要求书中公布了:1.一种用于集成电路测试的PCB板,其特征在于,所述集成电路包括天目芯片和与所述天目芯片连接的外围器件,PCB板包括: PCB板本体,所述PCB板本体的第一表面用以设置与所述天目芯片连接的第一测试座,所述PCB板本体的第二表面用以设置所述外围器件,所述第一测试座与所述外围器件通过设置在所述PCB板本体第一表面和第二表面的走线连接,其中,所述外围器件所在区域与所述第一测试座所在区域相对设置。
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