买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉深圳市星耀半导体有限公司申请的专利一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119847900B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510333025.1，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质是由李志龙;伍自军;黄祥设计研发完成，并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质在说明书摘要公布了：一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质，涉及数据处理技术领域。该方法包括：获取多个应用场景下固态硬盘的IO请求特征数据；对IO请求特征数据进行特征分类，并通过分段压缩算法对特征分类后的各类数据特征进行去冗余处理，得到负载特征指纹库；从负载特征指纹库中提取目标应用场景的目标指纹，并根据目标指纹，生成数据访问热力图；基于数据访问热力图，将基准测试负载分为冷数据流和热数据流，并对冷数据流和热数据流执行读写操作，生成混合负载序列；将混合负载序列并行加载至待测固态硬盘的多个物理区域，并执行性能测试，得到待测固态硬盘的测试结果。实施本申请提供的技术方案，达到了提高固态硬盘负载测试的准确性的效果。

本发明授权一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘负载测试方法，其特征在于，包括： 获取多个应用场景下固态硬盘的IO请求特征数据； 对所述IO请求特征数据进行特征分类，并通过分段压缩算法对特征分类后的各类数据特征进行去冗余处理，得到负载特征指纹库； 从所述负载特征指纹库中提取目标应用场景的目标指纹，并根据所述目标指纹，生成数据访问热力图； 基于所述数据访问热力图，将基准测试负载分为冷数据流和热数据流，并对所述冷数据流和所述热数据流执行读写操作，生成混合负载序列； 将所述混合负载序列并行加载至待测固态硬盘的多个物理区域，并执行性能测试，得到所述待测固态硬盘的测试结果； 所述对所述冷数据流和所述热数据流执行读写操作，生成混合负载序列，包括： 确定所述冷数据流和所述热数据流的切换周期和在单个周期内的执行时间比例； 根据所述执行时间比例，构建时间片分配模板，根据所述时间片分配模版对所述冷数据流和所述热数据流分配对应的执行时间片； 在各所述执行时间片内，按照对应冷数据流和热数据流的IO请求特征执行读写操作； 获取各所述执行时间片内执行读写操作的IO请求信息，并将各所述IO请求信息按时序合并，生成包含所述冷数据流和所述热数据流交替执行读写操作的混合负载序列； 所述根据所述时间片分配模版对所述冷数据流和所述热数据流分配对应的执行时间片，包括： 获取所述时间片分配模板中的周期时长和时间片大小； 根据所述周期时长，将所述冷数据流和所述热数据流的执行时间划分为多个执行周期； 基于各所述执行周期的时间片大小，确定所述冷数据流和所述热数据流在单个执行周期内的起始时间点和结束时间点； 将所述起始时间点和所述结束时间点映射至执行时间轴，生成所述冷数据流和所述热数据流的执行时间片序列； 根据所述执行时间片序列向所述冷数据流和所述热数据流分配对应的执行时间片。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市星耀半导体有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区3栋七层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。