南京银茂微电子制造有限公司庄伟东获国家专利权
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龙图腾网获悉南京银茂微电子制造有限公司申请的专利一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716173B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510229199.3，技术领域涉及：G01R1/067；该发明授权一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法是由庄伟东设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片探针测试技术领域，具体为一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法，测试设备包括有探测机主体，探测机主体上安装有吸附定位芯片的平台，平台上方环设有多个探针器，且平台上方还安装有用于驱动探针器空间移动的位置调节器，探针器包括有探针根组和V型探针，传统技术中探针单次与芯片接触来完成探测，测试的数据结果准确无法保证，而同一个探针对芯片多次接触测试，如果探针本身有问题，多次测试的数据全部错误，因此本发明采用多个V型探针轮流接触芯片来进行多次测试，通过分析多个数据来确认正确数据，同时可以排查出有问题的V型探针，进而及时更换V型探针，确保后续的芯片探测工作正确进行。
本发明授权一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法在权利要求书中公布了：1.一种用于芯片的全自动探针测试设备，包括有探测机主体，其特征在于：所述探测机主体上安装有吸附定位芯片的平台，所述平台上方环设有多个探针器，且平台上方还安装有用于驱动探针器空间移动的位置调节器，所述探针器包括有： 器架，器架一端和位置调节器固定连接； 器架另一端支撑的多个探针根组，且多个探针根组呈现弧形排列，探针根组和器架上的弧板架相连接； 多个轮流摆动的V型探针，每个探针根组对应夹持一个V型探针； 每个V型探针一端对应连接的电线，所述V型探针另一端通过快速刚性摆动来靠近芯片，且随后与芯片柔性接触； 动力集成，所述动力集成驱动多个探针根组轮流摆动。
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