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龙图腾网获悉上海通微分析技术有限公司申请的专利一种荧光检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119688593B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510199006.4，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权一种荧光检测系统及方法是由闫超;陈斌;张平;姚凡;张静;汪静;陈国华;刘鹏飞;帅明设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种荧光检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种荧光检测系统及方法，通过氙灯发出荧光，经凹镜聚光后依次经第一反射镜、第一光栅、分束镜后，一分部至硅光电池检测器用以检测光源是否稳定，另一部分进入检测槽，照射槽内样品后射出，再经第二光栅后，至光电倍增管，以获得荧光检测信号来检测物质。通过在线实时监测光源的稳定性，能够及时对光源不稳定因素进行排，保证荧光检测的准确性。通过一体式的检测槽，可方便定位及更换，并且能够同时适用于柱上或毛细管两种检测槽。

本发明授权一种荧光检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种荧光检测系统，包括： 光源，包括氙灯，用以发出荧光； 聚光凹镜，用以对荧光进行聚光并反射； 第一进光狭缝与第一反射镜，被聚光凹镜反射的荧光穿过第一进光狭缝后由第一反射镜进行反射； 第一光栅与第一出光狭缝，第一光栅用以将由第一反射镜反射的荧光按设定波长进行再反射并从第一出光狭缝穿过； 监控室，包括分束镜及硅光电池检测器，分束镜用以将穿过第一出光狭缝的荧光中的一部分反射至硅光电池检测器，由硅光电池检测器来检测光源是否稳定； 检测槽，所述荧光中的另一部分穿过分束镜至检测槽并照射槽内被测样品后再射出； 第二进光狭缝与第二光栅，射出的荧光穿过第二进光狭缝射至第二光栅，并由第二光栅按设定波长再进行反射； 第二出光狭缝与光电倍增管，反射的荧光穿过第二出光狭缝至光电倍增管，以获得检测信号；其特征在于： 所述光源还包括光源盒，所述聚光凹镜通过弹性支撑机构设于位于光源盒一端的镜体支架上，镜体支架上还设有用以调整聚光镜偏转的调节组件，调节组件包括对称设置的调节螺栓与压缩弹簧，调节螺栓尾部穿过镜体支架与聚光凹镜背面相抵，压缩弹簧则相抵于镜体支架与聚光凹镜背面之间； 所述聚光凹镜的镜壳后部中间具有一向后凸起的腔体，所述弹性支撑机构设于该腔体内，包括支撑弹簧、支撑螺栓；腔体的中心开设有轴向的台阶孔，台阶孔外具有用以限位支撑弹簧的环形槽，支撑弹簧一端与镜片相抵，另一端设于环形槽内并与腔体后壁相抵，台阶孔内设有具有锥形内孔的摇动圈，支撑螺栓一端为球头设于腔体内并与摇动圈锥形内孔相配合，另一端依次穿过摇动圈、腔体后壁、镜体支架后，通过螺母与镜体支架相紧固。

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