北京卫星制造厂有限公司刘佳琳获国家专利权
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龙图腾网获悉北京卫星制造厂有限公司申请的专利一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119557606B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510127488.2,技术领域涉及:G06F18/20;该发明授权一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法及系统是由刘佳琳;刘丽霞;郭晓燕;唐小军;回天力;杨耀东;于文涛;穆城;李强;宋文理;辛亮;田欣;白宇君;李大松设计研发完成,并于2025-02-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法及系统,其中,该方法包括:对预设的批次性多产品的数据进行处理得到数据轨迹矩阵;区分多批次产品相同测试数据的轨迹矩阵与单一产品单次测试数据轨迹矩阵;根据多批次产品相同测试数据的轨迹矩阵得到单台产品与其他产品的差异量;根据单台产品与其他产品的差异量和预设的产品异常阈值筛选出多批次产品内的异常数据产品;根据单一产品单次测试数据轨迹矩阵得到性能数据异常影响量;根据性能数据异常影响量和预设的性能指标异常阈值筛选出异常性能指标;根据多批次产品内的异常数据产品和异常性能指标得到异常产品并定位具体异常性能指标。本发明能够有效识别多批次数据的批次异常和指标异常。
本发明授权一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种记录类卷积化轨迹距离的数据筛选方法,其特征在于包括: 对预设的批次性多产品的数据进行线性化处理得到数据轨迹矩阵; 区分数据轨迹矩阵中的多批次产品相同测试数据的轨迹矩阵与单一产品单次测试数据轨迹矩阵; 根据多批次产品相同测试数据的轨迹矩阵得到单台产品与其他产品的差异量; 根据单台产品与其他产品的差异量和预设的产品异常阈值筛选出多批次产品内的异常数据产品; 根据单一产品单次测试数据轨迹矩阵得到性能数据异常影响量; 根据性能数据异常影响量和预设的性能指标异常阈值筛选出异常性能指标; 根据多批次产品内的异常数据产品和异常性能指标得到异常产品并定位具体异常性能指标; 单台产品与其他产品的差异量通过如下公式得到: ; 其中,为第个产品与其他产品的差异量,为第个产品的处于数据表格内处于列指标与本批次产品除第个产品外的其他产品处于列同一指标的轨迹最小相似性,为处于列指标第时刻的指标值,为处于列指标第时刻的指标值,为第一时刻,为本批次产品的总数,为第二时刻,为产品总性能指标的列数,为产品序号; 通过如下公式得到: 其中,为考虑时移误差的性能与性能之间的相似性,为第个产品处于列指标值集合,为本批次产品除第个产品外的其他产品处于列指标值集合,为对序列引入位移,为可调节的位移阈值,为处于列指标第时刻的指标值,为处于列指标第时刻的指标值,为处于列指标第时刻的指标值,为处于列指标第时刻的指标值,为第三时刻,m为第个产品处于列指标测试的总时间。
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