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龙图腾网获悉同济大学申请的专利一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119246645B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411782712.3，技术领域涉及：G01N27/416；该发明授权一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法是由王力;汪晟;王志伟;郭雲设计研发完成，并于2024-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法，属于膜技术领域。本发明所述方法包括以下操作步骤：S1、剥离聚酰胺分离膜的支撑层无纺布和中间层，得到聚酰胺分离膜活性层；S2、将步骤S1所得聚酰胺分离膜活性层涂附在对电极铂片和金芯片上；S3、将步骤S2中所得对电极铂片和金芯片置于EQCM‑D模块中并通过三电极体系连接电化学工作站，分别通入超纯水和已知浓度的盐溶液直至平衡，平衡后施加恒电压，记录整个过程的频率和电流变化，定量测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带的水合数。这种方法操作简便、灵敏度高、适用范围广，首次实现电化学方法对盐离子在聚酰胺分离膜过程中水合数的定量测定。

本发明授权一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法在权利要求书中公布了：1.一种测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带水合数的方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、剥离聚酰胺分离膜的支撑层无纺布和中间层，得到聚酰胺分离膜活性层； S2、将步骤S1所得聚酰胺分离膜活性层涂附在对电极铂片和金芯片上； S3、将步骤S2中所得对电极铂片和金芯片置于EQCM-D模块中并通过三电极体系连接电化学工作站，分别通入水和盐溶液直至平衡，平衡后施加恒电压，记录整个过程的频率和电流变化，定量测定盐离子过聚酰胺分离膜过程携带的水合数；盐离子过聚酰胺分离膜过程携带的水合数的计算公式如下： Qi＝Qt-It， 其中，水合盐离子过聚酰胺分离膜的质量变化Δmi定义为晶体常数C与频率变化Δf的乘积，水合盐离子的相对原子质量MW'i定义为Δmi与法拉第常数F的乘积与电荷量Qi的比值，水合数Ni定义为MW'i与裸盐离子相对原子质量MWi之差与水的相对分子质量之比； n＝5，C＝17.7ngHz·cm2，Δf由施加恒电压前后的频率相减得到，F＝96485Cmol，Qi为i离子进入聚酰胺分离膜过程需要的电荷量，即为施加恒电压过程转移的总电荷量Qt减去由双电层导致的电荷量It，Qt由电化学工作站记录的I-t曲线积分得到，I为系统稳定时对应的电流，t为系统稳定时对应的时间。

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