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龙图腾网恭喜安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司申请的专利光学晶体激光热透镜效应的检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119935512B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510421653.5，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权光学晶体激光热透镜效应的检测装置及方法是由罗毅;龚瑞;赵建华设计研发完成，并于2025-04-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学晶体激光热透镜效应的检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了光学晶体激光热透镜效应的检测装置及方法，涉及热透镜效应检测领域，包括泵浦激光器、探测红光激光器和功率探测器，沿着泵浦激光器的光束方向依次设置合束镜、晶体样品台、分束镜，探测红光激光器的光束方向上设置前置反射镜，前置反射镜用于向合束镜方向反射探测红光激光器的光束，使探测红光激光器的光束与泵浦激光器的光束重合穿过光学晶体，对应功率探测器设置后置反射镜，本发明将泵浦激光与探测光重合穿过光学晶体，通过泵浦激光对光学晶体加热，诱导光学晶体的热透镜效应被放大，再对探测光实施检测，可清晰判断光学晶体的热透镜效应强弱，有利于对有利于晶体质量的分级和生产工艺的改进。

本发明授权光学晶体激光热透镜效应的检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.光学晶体激光热透镜效应的检测方法，采用光学晶体激光热透镜效应的检测装置，包括：泵浦激光器（1）、探测红光激光器（2）和功率探测器（4），其特征在于，沿着所述泵浦激光器（1）的光束方向依次设置合束镜（31）、晶体样品台（6）、分束镜（32），晶体样品台（6）用于定位光学晶体，所述探测红光激光器（2）的光束方向上设置前置反射镜（3），前置反射镜（3）用于向所述合束镜（31）方向反射探测红光激光器（2）的光束，使探测红光激光器（2）的光束与泵浦激光器（1）的光束重合穿过光学晶体，对应所述功率探测器（4）设置后置反射镜（33），探测红光激光器（2）的光束依次经过分束镜（32）、后置反射镜（33）反射后导向功率探测器（4）； 光学晶体激光热透镜效应的检测步骤如下： A、光束调试：打开泵浦激光器（1）、探测红光激光器（2），泵浦激光器（1）的光束依次贯穿合束镜（31）、光学晶体、分束镜（32），探测红光激光器（2）的光束通过前置反射镜（3）、合束镜（31）反射贯穿光学晶体，再通过分束镜（32）、后置反射镜（33）反射至功率探测器（4），协调转动前置反射镜（3）、合束镜（31）、分束镜（32）、后置反射镜（33）的反射角度，使泵浦激光器（1）、探测红光激光器（2）的光束重合贯穿光学晶体，且保证探测红光激光器（2）的光束精准导向功率探测器（4）； B、背景噪声采集：关闭探测红光激光器（2）、打开泵浦激光器（1），并依次增加泵浦激光器（1）的光束功率，获取功率探测器（4）的背景噪声； C、变功率信号采集：打开泵浦激光器（1）、探测红光激光器（2），泵浦激光器（1）的光束对光学晶体加热，探测红光激光器（2）的光束贯穿光学晶体后通过功率探测器（4）检测衍射光斑中心光强，再呈梯度增加泵浦激光器（1）的光束功率，对探测红光激光器（2）的光束进行多次检测，从而获得衍射光斑中心光强随泵浦功率变化的趋势线，通过趋势线的斜率反馈光学晶体的热透镜效应的强度。

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