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龙图腾网获悉西北工业大学;西安西测测试技术股份有限公司申请的专利一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119885676B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510353805.2，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法是由苏昱太;周圳锐;李泽新设计研发完成，并于2025-03-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法，涉及电子设备可靠性预测领域，包括收集各个电子设备失效单元的失效物理模型参数，通过失效机理分析确立失效物理模型；对电子设备失效单元进行可靠性参数计算，获得失效物理预测值；基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，并计算各失效单元的平均无故障工作时间；使用贝叶斯公式进行系统层面可靠性分析，获得系统失效率和系统平均故障时间，完成失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计。本发明解决了现有技术中对电子设备可靠性进行预测时，难以同时兼顾失效物理机理与实际试验数据、以及缺乏动态修正能力所导致的预测不准确等问题。

本发明授权一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法在权利要求书中公布了：1.一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：收集各个电子设备失效单元的失效物理模型参数，通过失效机理分析确立失效物理模型； S2：基于失效物理模型对电子设备失效单元进行可靠性参数计算，获得失效物理预测值； S3：基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，并计算各失效单元的平均无故障工作时间； 所述S3中包括以下分步骤： S31：基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，公式为： 其中，为可靠度，为失效率，为时间，为失效分布函数，为失效密度函数； S32：基于电子设备失效单元的失效率，计算各失效单元的平均无故障工作时间，公式为： 其中，为平均无故障工作时间； S4：基于失效物理预测值、失效率和平均无故障工作时间，使用贝叶斯公式进行系统层面可靠性分析，获得系统失效率和系统平均故障时间，完成失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计； 所述S4中包括以下分步骤： S41：将失效率作为先验信息的均值，将失效物理预测值作为观测数据，计算各失效单元的先验分布； 所述S41中各失效单元的先验分布为： 其中，为失效率，为失效次数的先验信息，为失效时间的先验信息，Gamma为伽玛分布； S42：基于各失效单元的先验分布和似然函数，计算各失效单元的后验分布，同时对后验参数进行修正获得后验修正参数，计算后验均值和平均故障时间； 所述S42中似然函数为： 其中，为似然函数，为累计运行时间，为失效率； 所述各失效单元的后验分布为： 其中，为后验分布； 所述后验修正参数为： 其中，和为后验修正参数； 所述后验均值满足： S43：基于后验均值和平均故障时间，获得系统失效率和系统平均故障时间。

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