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龙图腾网获悉北京中科核安科技有限公司申请的专利一种闪烁体探测器的无源刻度方法、系统、装置及产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119689543B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411980984.4，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种闪烁体探测器的无源刻度方法、系统、装置及产品是由董翀;谢园;沈杨;李玉株设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种闪烁体探测器的无源刻度方法、系统、装置及产品在说明书摘要公布了：本发明提供一种闪烁体探测器的无源刻度方法、系统、装置及产品，涉及辐射探测领域。该方法包括：利用闪烁体探测器对基准放射源进行探测，以获取对应的基准计数率；将基准放射源替换为基准光源，并利用闪烁体探测器对基准光源进行多次探测，以获取对应的多个光源计数率；根据基准计数率和基准放射源的放射性活度，确定闪烁体探测器在第一基准电压和基准放射源条件下的基准刻度系数；根据多个光源计数率之间的比例关系、基准刻度系数，确定闪烁体探测器在多个不同电压条件下的刻度系数。该方法能够利用基准光源代替使用放射源来对闪烁体探测器进行刻度，以达到无源刻度的效果。

本发明授权一种闪烁体探测器的无源刻度方法、系统、装置及产品在权利要求书中公布了：1.一种闪烁体探测器的无源刻度方法，其特征在于，包括： 利用所述闪烁体探测器对基准放射源进行探测，以获取对应的基准计数率；其中，在对所述基准放射源进行探测时所述闪烁体探测器的工作电压被设置为第一基准电压； 将所述基准放射源替换为基准光源，并利用所述闪烁体探测器对所述基准光源进行多次探测，以获取对应的多个光源计数率；其中，所述基准光源在所述闪烁体探测器的探测过程中亮度值被设置为定值，并且，在对所述基准光源进行多次探测时所述闪烁体探测器的工作电压被依次设置为多个不同电压，以及所述多个不同电压中包括第一基准电压； 根据所述基准计数率和所述基准放射源的放射性活度，确定所述闪烁体探测器在所述第一基准电压和所述基准放射源条件下的基准刻度系数； 根据所述多个光源计数率之间的比例关系、所述基准刻度系数，确定所述闪烁体探测器在多个不同电压条件下的刻度系数； 所述多个光源计数率中与第一基准电压对应的光源计数率为光源基准计数率； 其中，所述根据所述多个光源计数率之间的比例关系、所述基准刻度系数，确定所述闪烁体探测器在多个不同电压条件下的刻度系数，包括如下步骤： 确定所述光源基准计数率与所述多个光源计数率中的其它光源计数率之间的比例情况； 根据所述比例情况以及所述基准刻度系数，确定所述闪烁体探测器在多个不同电压条件下的刻度系数。

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