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龙图腾网恭喜南京大学申请的专利一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119940291B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510421005.X，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法是由邹宁睦;许文博;黄奕博;陈思霖;邸康健;傅玉祥设计研发完成，并于2025-04-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法，将芯片版图数据转换为二值图像数据，输入到GPU驱动的光刻仿真器中得到光刻后的打印图像，与原二值图像进行度量，得到潜在热点的位置信息；根据原二值图像及光刻后打印图像得到的先验光刻信息，输入训练好的基于transformer的端到端热点检测器，输出热点的位置信息并框选，对版图中的热点进行定位。本发明方法由GPU加速的光刻仿真器驱动，消除了对数据集相关超参数的需求，显著提高了灵活性，减少了计算资源的消耗，同时光刻仿真器的先验知识被集成到框架中，指导热点检测模型聚焦于潜在的热点区域，显著提高了解释性和泛化能力。

本发明授权一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1、将已有芯片版图数据转换为二值图像数据保存； 步骤2、将转换后的二值图像数据输入到GPU驱动的光刻仿真器中，输出光刻后的打印图像并保存； 步骤3、构建基于transformer的端到端热点检测器，将光刻后的打印图像与原二值图像输入到查询向量初始化模块进行度量，得到潜在热点的位置信息，并保存； 所述查询向量初始化模块，将输入的光刻后的打印图像与原二值图像划分为不重叠的块，计算每个块的度量损失，选择潜在热点，获取光刻仿真先验信息，集成到解码器中； 得到潜在热点的位置信息，包括如下子步骤： 步骤3.1、划分图像：将输入的原二值图像与光刻后的打印图像划分为若干不重叠的块； 步骤3.2、对于每个块，计算块中每个像素位置的像素值差异： ； 其中，和分别表示输入的原二值图像和光刻后的打印图像中像素位置的像素强度； 步骤3.3、计算每个块的度量损失：每个块的度量损失通过对块内所有像素的差异平方求和计算得到，公式为： ； 其中，表示块的大小，表示块的索引； 步骤3.4、构建损失图：将所有块的度量损失汇总，构建损失图，其中包含每个块的度量损失值； 步骤3.5、选择潜在热点：选择损失图中损失值最高的前个块作为潜在热点，保留潜在热点所在块的位置信息； 步骤3.6、整合位置先验信息：将潜在热点所在块的位置信息作为先验知识传递至解码器，指导解码器将注意力集中在具有显著光刻差异的区域，提高热点检测的准确性和效率； 步骤4、根据原二值图像及光刻后打印图像得到的先验光刻信息，构建版图训练集和验证集，输入基于transformer的端到端热点检测器进行模型训练，得到训练好的热点检测模型； 步骤5、将待测试芯片版图按照步骤2和步骤3得到二值图像版图中的潜在热点位置信息，输入步骤4中训练好的热点检测模型进行测试，对版图中的热点进行定位。

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