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龙图腾网恭喜福建师范大学申请的专利一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114609110B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210255833.7，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法是由林正欢;王帅琦;凌启淡设计研发完成，并于2022-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法，属于重金属离子检测技术领域。该方法包括以下步骤：聚氨基硅氧烷的合成、银离子浓度检测标准工作曲线的建立、实际样品的测定。本发明的方法，通过检测检测器荧光和磷光强度的变化确定银离子含量，能实现快速高效双响应检测。这种高灵敏度、快速、准确的检测方法实用性强，适合工业化生产，在重金属离子检测领域具有广阔的应用前景。

本发明授权一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种荧光和磷光双响应的银离子含量检测方法，其特征在于，包括以下步骤： （1）聚氨基硅氧烷的合成：将氨基硅氧烷、稀酸和去离子水混合，在室温下剧烈搅拌，然后升温至90℃老化24h，反应结束后用去离子水冲洗，过滤，80℃真空烘箱中干燥24h，得到的白色粉末即为聚氨基硅氧烷； 所述氨基硅氧烷包括以下结构式的化合物中的一种： ； （2）银离子浓度检测标准工作曲线的建立：取步骤（1）制备的聚氨基硅氧烷浸泡于不同浓度的银离子标准溶液中，100℃加热1min后，进行荧光和磷光光谱采集实验，分别建立银离子浓度与聚氨基硅氧烷处理前后荧光任意发射峰相对强度的标准工作曲线和银离子浓度与聚氨基硅氧烷处理前后磷光任意发射峰相对强度的标准工作曲线； （3）实际测定：首先利用光谱仪得到未添加待测物的聚氨基硅氧烷荧光和磷光发射光谱备用，然后待测物经过离心过滤不溶物后，取步骤（1）制备的聚氨基硅氧烷浸泡于待测物中，捞出、烘干水分，进行荧光和磷光光谱测试，得到聚氨基硅氧烷处理后的光谱，取荧光和磷光任意发射峰强度，将此处峰强与未处理前发射强度对比得到相对强度，利用步骤（2）中得到的标准工作曲线和荧光、磷光发射相对强度分别计算实验样品溶液中银离子的含量，两种方法测试结果平均值即为最终测试得到的银离子浓度。

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