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武汉大学中南医院刘颖娟获国家专利权

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龙图腾网获悉武汉大学中南医院申请的专利一种基于荧光照片的核型识别方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114781527B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210451474.2,技术领域涉及:G06V20/69;该发明授权一种基于荧光照片的核型识别方法、装置及电子设备是由刘颖娟;杨桂设计研发完成,并于2022-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于荧光照片的核型识别方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于荧光照片的核型识别方法、装置及电子设备,该方法包括基于包围曝光分别获取目标样本在不同曝光度下的各全景荧光图像;比对各全景荧光图像,筛除存在过曝或曝光不足的异常全景荧光图像;识别剩余的全景荧光图像中各细胞的荧光表现信息,生成核型识别结果。本发明实现了通过包围曝光的方式对荧光染色后的病理样本进行图像比对识别,以此筛除强阳性而导致过曝的全景荧光图像,保证最终基于全景荧光图像所获取到的荧光表现信息的准确性,进而保证最终生成的核型识别结果的准确性。

本发明授权一种基于荧光照片的核型识别方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种基于荧光照片的核型识别方法,其特征在于,所述方法包括: 基于包围曝光分别获取目标样本在不同曝光度下的各全景荧光图像; 比对各所述全景荧光图像,筛除存在过曝或曝光不足的异常全景荧光图像; 识别剩余的所述全景荧光图像中各细胞的荧光表现信息,生成核型识别结果; 其中,异常全景荧光图像包括第一异常全景荧光图像和第二异常全景荧光图像; 所述比对各所述全景荧光图像,筛除存在过曝或曝光不足的异常全景荧光图像,包括: 确定各所述全景荧光图像中的高光区域,所述高光区域为亮度值高于预设亮度值的像素点构成的区域; 比对各所述高光区域,确定异常亮度区域,所述异常亮度区域为匹配比例低于第一预设比例的亮度区域,所述匹配比例为在其余所有所述全景荧光图像中同一位置存在匹配区域的比例; 将所述异常亮度区域对应的所述全景荧光图像确定为第一异常全景荧光图像,并筛除所述第一异常全景荧光图像; 确定剩余的各所述全景荧光图像中各所述高光区域的所述匹配比例,当存在所述匹配比例不为第二预设比例时,将不存在所述匹配比例对应所述匹配区域的所述全景荧光图像确定为第二异常全景荧光图像,并筛除所述第二异常全景荧光图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人武汉大学中南医院,其通讯地址为:430000 湖北省武汉市东湖路169号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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