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买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！ 龙图腾网恭喜武汉理工大学申请的专利基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器及其制造方法成功实施成果转化。 龙图腾网通过国家知识产权局官网在2020-09-11发布的专利公告中获悉：该专利的专利申请号/专利号为：2020105450611，技术领域属于G01N21/41(20060101)；该专利基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器及其制造方法是由武汉理工大学设计研发完成，并于2020-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。 本发明公开了一种基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器，它的全介质超表面单元由第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块组成，第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块通过电子束蒸发沉积法沉积在透明玻璃基底上，第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块关于全介质超表面单元的中心点呈120°旋转对称，第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块的内侧边缘与全介质超表面单元中心点的距离d均相等，且距离d的范围均为60～70nm。本发明使用高折射率的介电材料避免了金属材料引起的欧姆损耗，具有损耗低的优势，且简单易实现，检测成本低廉。 龙图腾网（www.lotut.com）是知识产权全产业链服务平台，平台围绕知识产权代理、知识产权管理、商标查询、商标转让交易、专利检索、专利转让运营、科技成果转化等，通过“互联网+知识产权”的方式，整合资源与服务，为广大知识产权代理机构、科技咨询公司、律师事务所以及各类科技创新企业、科研院所、大专院校等，提供龙图腾商标专利检索分析平台、龙图腾知识产权管家、龙图腾知识产权交易平台等人工智能大数据云产品服务、知识产权服务、科技成果转移转化服务等。 如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，欢迎咨询龙图腾网官方客服，联系电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。 |
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