【发明公布】位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统_株式会社日立电力解决方案_201910426464.1 

申请/专利权人:株式会社日立电力解决方案

申请日:2019-05-22

发明/设计人:北见薰;大野茂;住川健太;村井正胜

公开(公告)日:2019-12-03

代理机构:中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

公开(公告)号:CN110530986A

代理人:金光华

主分类号:G01N29/06(20060101)

地址:日本茨城

分类号:G01N29/06(20060101);G01N29/265(20060101)

优先权:["20180523 JP 2018-098714"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2019.12.03#公开

摘要:提供一种位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统,即使在检查厚的被检体的情况下也能够在期望的检查对象面取得高分辨率的检查图像。位置控制装置具备决定第1超声波探测部以及第2超声波探测部的位置的处理部,该第1超声波探测部向被检体发送超声波,该第2超声波探测部与所述第1超声波探测部对置地配置,接收透射所述被检体的透射信号。在将与所述被检体的表面垂直的方向设为±Z方向、将与所述±Z方向正交的方向设为±X方向、将与所述±Z方向以及所述±X方向正交的方向设为±Y方向的情况下,所述处理部在所述±Z方向上决定所述第1超声波探测部的位置,在所述±Z方向上决定所述第2超声波探测部的位置。

主权项:1.一种超声波影像系统,其特征在于,具备:第1超声波探测部,向被检体发送超声波;第2超声波探测部,与所述第1超声波探测部隔着所述被检体而在上方或者下方对置地配置,接收透射所述被检体的透射信号;位置控制装置,决定所述第1超声波探测部及所述第2超声波探测部的位置;控制装置,将所述第1超声波探测部及所述第2超声波探测部控制到所述位置控制装置决定的位置;以及显示装置,对所述被检体中的检查对象面进行影像化,在将与所述被检体的表面垂直的方向设为±Z方向、将与所述±Z方向正交的方向设为±X方向、将与所述±Z方向以及所述±X方向正交的方向设为±Y方向的情况下,所述位置控制装置进行:在所述±Z方向上决定所述第1超声波探测部的位置的处理;以及在所述±Z方向上决定所述第2超声波探测部的位置的处理。

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权利要求:

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