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【发明公布】光测量装置和光测量方法_浜松光子学株式会社_201880035845.0 

申请/专利权人:浜松光子学株式会社

申请日:2018-05-18

公开(公告)日:2020-01-10

公开(公告)号:CN110678738A

主分类号:G01N21/64(20060101)

分类号:G01N21/64(20060101);G01N21/01(20060101)

优先权:["20170602 JP 2017-109969"]

专利状态码:失效-发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态:2022.07.15#发明专利申请公布后的视为撤回;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.10#公开

摘要:光测量装置1具备照射部10、检测部20以及处理部30。照射部10包含与试样容器21~23一对一对应设置的光源111~113,遍及互相不同的照射期间,从各光源输出被照射于对应的试样的照射光。检测部20包含与试样容器21~23一对一对应设置的光检测器211~213。处理部30具有从各光检测器输出的检测信号作为模拟值共同地被输入的输入端子,输入在各光源输出照射光的照射期间被输入到输入端子的模拟值,并且将与该模拟值对应的数字值作为表示在对应于该光源的试样中产生的产生光的强度的值而输出。由此,实现了能够更简便地测量在多个试样的各个中产生的光的强度的装置和方法。

主权项:1.一种光测量装置,其特征在于,是测量相应于向多个试样的各个的光的照射而在所述多个试样的各个中产生的光的强度的装置,具备:照射部,包含与所述多个试样一对一对应设置的多个光源,遍及互相不同的照射期间,从各光源输出被照射于对应的试样的照射光;检测部,包含与所述多个试样一对一对应设置的多个光检测器,利用各光检测器,检测在对应的试样中相应于所述照射光的照射而产生的产生光的强度并输出检测信号;以及处理部,具有从所述多个光检测器的各个输出的检测信号作为模拟值共用地被输入的输入端子,输入在所述照射部的各光源输出所述照射光的照射期间被输入到所述输入端子的模拟值,并且将与该模拟值对应的数字值作为表示在对应于该光源的试样中产生的产生光的强度的值而输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浜松光子学株式会社 光测量装置和光测量方法

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