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【发明公布】磁场测量装置及磁场测量方法_胜美达集团株式会社;国立大学法人京都大学_201910582273.4 

申请/专利权人:胜美达集团株式会社;国立大学法人京都大学

申请日:2019-07-01

公开(公告)日:2020-01-10

公开(公告)号:CN110673066A

主分类号:G01R33/032(20060101)

分类号:G01R33/032(20060101);G01R33/24(20060101)

优先权:["20180703 JP 2018-126541"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2021.02.02#实质审查的生效;2020.01.10#公开

摘要:本发明提供一种利用ODMR准确地测量低频的交流磁场的磁场测量装置及磁场测量方法;线圈2对被配置于被测量交流磁场内的光探测磁共振部件1外加微波的磁场;高频电源3使微波的电流导通于线圈2;照射装置4对光探测磁共振部件1照射光;受光装置5探测从光探测磁共振部件1发出的光;而且,测量控制部21执行相对于被测量交流磁场的规定相位的规定的直流磁场测量序列,在该直流磁场测量序列中,对高频电源3以及照射装置4进行控制,确定由受光装置5探测出的光的探测光量;磁场运算部22根据该规定相位以及探测光量,对被测量交流磁场的强度进行运算。

主权项:1.一种磁场测量装置,其特征在于,具备:光探测磁共振部件、线圈、高频电源、照射装置、受光装置、测量控制部以及磁场运算部,所述光探测磁共振部件配置于被测量交流磁场内,所述线圈对所述光探测磁共振部件外加微波的磁场,所述高频电源使所述微波的电流导通于所述线圈,所述照射装置对所述光探测磁共振部件照射光,所述受光装置探测从所述光探测磁共振部件发出的光,所述测量控制部执行相对于所述被测量交流磁场的规定相位的规定的直流磁场测量序列,在所述直流磁场测量序列中,对所述高频电源以及所述照射装置进行控制,确定由所述受光装置探测出的所述光的探测光量,所述磁场运算部根据所述规定相位以及所述探测光量,对所述被测量交流磁场的强度进行运算。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 胜美达集团株式会社;国立大学法人京都大学 磁场测量装置及磁场测量方法

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