申请/专利权人：欧姆龙株式会社

申请日：2017-01-17

公开（公告）日：2020-01-10

公开（公告）号：CN110672034A

主分类号：G01B11/24(20060101)

分类号：G01B11/24(20060101)

优先权：["20160324 JP 2016-060274"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.08.10#授权;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.10#公开

摘要：本发明的一个方面的光学测量装置1包括：光源10，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部30，其使从光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象2反射的反射光；光接收部40，其将由传感器头部接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部20，其将光源10、光接收部以及传感器头部光学性地连接；以及处理部50，其基于光接收部中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，基于该比较结果，判断是否正常测定到所述测量对象的所述距离。

主权项：1.一种光学测量装置，其特征在于，包括：光源，其产生具有多个波长成分的照射光，光学系统，其使从所述光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象反射的反射光，光接收部，其将由所述光学系统接收的反射光分离成各波长成分，并接收所述各波长成分的光，以及处理部，其基于所述光接收部中的所述各波长成分的受光量，计算从所述光学系统到所述测量对象的距离；所述处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与所述受光量的基准值比较，基于该比较结果，判断是否正常测定到所述测量对象的所述距离。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 欧姆龙株式会社 光学测量装置

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