申请/专利权人：上海卫星装备研究所

申请日：2019-11-06

公开（公告）日：2020-01-10

公开（公告）号：CN110672655A

主分类号：G01N25/00(20060101)

分类号：G01N25/00(20060101);G01N21/27(20060101);G01N21/55(20140101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2022.12.16#发明专利申请公布后的驳回;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.10#公开

摘要：本发明涉及热辐射性能测量技术领域内的一种热辐射性能原位检测系统，包括光源模块、光源标定模块、控制模块、样品室以及数据处理模块；光源模块，提供待测样品进行辐照实验与热辐射性能检测所需的光源；光源标定模块，用于待测样品与参考标准在同等条件下的热辐射性能参数的比对；样品室，对待测样品进行性能测试以及数据采集；控制模块包括运动控制单元与数据采集控制单元；数据处理模块，获取数据采集控制单元采集到的热辐射性能检测数据并通过处理软件处理，获得待测样品的法向半球反射率。本发明还提供了一种热辐射性能原位检测方法。本发明能真实的测量空间环境模拟对样品的热辐射性能的影响。

主权项：1.一种热辐射性能原位检测系统，其特征在于，包括光源模块、光源标定模块、控制模块、样品室以及数据处理模块；所述光源模块，提供待测样品进行辐照实验与热辐射性能检测所需的光源；所述光源标定模块，用于待测样品与参考标准在同等条件下的热辐射性能参数的比对；所述样品室，包括样品架、运动机构以及检测采集单元，所述样品室对待测样品进行性能测试以及数据采集；所述控制模块包括运动控制单元与数据采集控制单元，所述运动控制单元能够控制所述运动机构对待测样品进行转移，所述数据采集控制单元控制检测采集单元对待测样品热辐射性能检测的数据进行采集；所述数据处理模块，获取所述数据采集控制单元采集到的热辐射性能检测数据并通过处理软件处理，获得待测样品的法向半球反射率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海卫星装备研究所 热辐射性能原位检测系统及方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD