买专利,只认龙图腾
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明公布】一种EMCCD倍增增益测试方法_华东光电集成器件研究所_201910956340.4 

申请/专利权人:华东光电集成器件研究所

申请日:2019-10-10

公开(公告)日:2020-01-14

公开(公告)号:CN110687423A

主分类号:G01R31/26(20140101)

分类号:G01R31/26(20140101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.11.23#授权;2020.02.11#实质审查的生效;2020.01.14#公开

摘要:本发明公开一种EMCCD倍增增益测试方法,包括以下步骤:a、选择EMCCD的待测像元,对待测像元施加电源与时钟信号,在无光条件下,测试得到像元输出Udark;在对应的光照条件下,逐级增加倍增电压,得到有光条件下的像元输出Vout;根据公式MRG=(Vout‑Udark)Udark计算倍增增益,公式中MRG为倍增增益;b、计算出白缺陷、暗缺陷与盲元像素,剔除缺陷像元;c、拟合倍增电极与倍增增益的关系曲线;通过不断地施加倍增电极电压,记录倍增电压值与此时倍增增益计算值,描绘倍增增益曲线图,可以清晰给出倍增电极电压与倍增增益的关系,填补了国内外的空白。

主权项:1.一种EMCCD倍增增益测试方法,其特征在于,包括以下步骤:a、选择EMCCD的待测像元,对待测像元施加电源与时钟信号,在无光条件下,测试得到像元输出Udark;在对应的光照条件下,逐级增加倍增电压,得到有光条件下的像元输出Vout;根据公式MRG=(Vout-Udark)Udark计算倍增增益,公式中MRG为倍增增益;b、计算出白缺陷、暗缺陷与盲元像素,剔除缺陷像元;c、拟合倍增电极与倍增增益的关系曲线。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华东光电集成器件研究所 一种EMCCD倍增增益测试方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。