申请/专利权人：长江存储科技有限责任公司

申请日：2019-10-17

公开（公告）日：2020-03-17

公开（公告）号：CN110892483A

主分类号：G11C29/56(20060101)

分类号：G11C29/56(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.01.29#授权;2020.04.10#实质审查的生效;2020.03.17#公开

摘要：一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。

主权项：1.一种存储器件，包括：封装衬底，包括：隔离引脚；测试模式选择引脚，其被配置为切换存储器裸片的操作模式；测试时钟引脚，其被配置为接收测试时钟；以及测试数据引脚，其被配置为执行数据传输；控制器裸片，其设置在所述封装衬底上并且耦合至所述隔离引脚；以及所述存储器裸片，其设置在所述封装衬底上并且耦合至所述测试模式选择引脚、所述测试时钟引脚和所述测试数据引脚；其中，在所述隔离引脚被设置为使所述存储器裸片与所述控制器裸片隔离的隔离状态时，所述存储器裸片被设置为经由所述测试模式选择引脚、所述测试时钟引脚和所述测试数据引脚接收控制。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长江存储科技有限责任公司 采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件

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