申请/专利权人：发那科株式会社

申请日：2019-09-11

公开（公告）日：2020-03-20

公开（公告）号：CN110895719A

主分类号：G06N20/00(20190101)

分类号：G06N20/00(20190101)

优先权：["20180912 JP 2018-170951"]

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态：2022.02.25#发明专利申请公布后的视为撤回;2020.03.20#公开

摘要：本发明提供一种验证装置，用于验证所存储的学习数据的妥当性。该验证装置通过基于该学习数据的学习来生成学习模型，根据学习数据来进行使用了学习模型的推断，进一步按照用于分析学习数据的分析方法以及决定了该分析中的基准的分析标准，使用上述推断的结果来分析学习数据，并按照该分析的结果来加工学习数据。

主权项：1.一种验证装置，验证存储在学习数据存储部中的学习数据的妥当性，其特征在于，该验证装置具备：学习部，其通过基于存储在上述学习数据存储部中的学习数据的学习来生成学习模型；推断部，其根据存储在上述学习数据存储部中的学习数据来进行使用了上述学习模型的推断；分析部，其按照用于分析存储在上述学习数据存储部中的学习数据的分析方法以及决定了该分析中的基准的分析标准，使用上述推断部的推断结果来分析存储在上述学习数据存储部中的学习数据；以及加工部，其按照上述分析部的分析结果来加工存储在上述学习数据存储部中的学习数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 发那科株式会社 验证装置

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