申请/专利权人：爱德万测试公司

申请日：2019-07-03

公开（公告）日：2020-03-24

公开（公告）号：CN110908849A

主分类号：G06F11/263(20060101)

分类号：G06F11/263(20060101)

优先权：["20180918 US 16/134,792"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.04.17#实质审查的生效;2020.03.24#公开

摘要：本公开涉及低成本内置自测试中心测试。内置自测试BIST中心自动测试设备ATE框架可以包括主控制器和一个或多个测试器单元。主机控制器可以被配置为接收发起对多个被测设备DUT的测试的一个或多个输入。一个或多个测试器单元可以包括多个通用异步接收器‑发送器UART通信链路。UART通信链路可以被配置为发送用于发起和控制多个DUT中的内置自测试BIST的一个或多个命令。UART通信链路还可以被配置为从多个DUT接收BIST的测试输出数据。主机控制器还可以配置为输出BIST的测试输出数据。

主权项：1.一种自动测试设备ATE框架，包括：主机控制器，被配置为接收用于发起对多个被测设备DUT的测试的一个或多个输入；一个或多个测试器单元，包括多个通用异步接收器-发送器UART通信链路，所述多个UART通信链路被配置为：发送用于发起和控制所述多个DUT中的内置自测试BIST的一个或多个命令，并且从所述多个DUT接收所述BIST的测试输出数据；并且所述主机控制器还被配置为输出所述BIST的测试输出数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 爱德万测试公司 低成本内置自测试中心测试

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