申请/专利权人:天津大学
申请日:2019-10-18
公开(公告)日:2020-03-31
公开(公告)号:CN110940909A
主分类号:G01R31/28(20060101)
分类号:G01R31/28(20060101)
优先权:
专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态:2022.11.18#发明专利申请公布后的驳回;2020.04.24#实质审查的生效;2020.03.31#公开
摘要:本发明属于集成电路测试领域,为进行集成电路直流参数测试的精密测量单元电路测试,准确对被测器件施加电压电流和测量相应的响应电压电流值,具有工作速度快、精度高、成本低且系统可移植性强的优点。为此,本发明,集成电路直流参数测试的测量单元电路,由现场可编程门阵列FPGA、模数转换器ADC、数模转换器DAC、运算放大器、功率放大器和继电器开关构成,FPGA根据输入的指令经DAC、运算放大器、功率放大器给被测器件施加激励值,被测器件对所述激励做出的响应经ADC发送给FPGA,由FPGA输出测试结果,继电器开关用来完成对电路测量模式切换和量程选择的控制。本发明主要应用于集成电路测试场合。
主权项:1.一种集成电路直流参数测试的测量单元电路,其特征是,由现场可编程门阵列FPGA、模数转换器ADC、数模转换器DAC、运算放大器、功率放大器和继电器开关构成,FPGA根据输入的指令经DAC、运算放大器、功率放大器给被测器件施加激励值,被测器件对所述激励做出的响应经ADC发送给FPGA,由FPGA输出测试结果,继电器开关用来完成对电路测量模式切换和量程选择的控制。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 天津大学 集成电路直流参数测试的测量单元电路
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