买专利,只认龙图腾
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明公布】集成电路直流参数测试的测量单元电路_天津大学_201910996001.9 

申请/专利权人:天津大学

申请日:2019-10-18

公开(公告)日:2020-03-31

公开(公告)号:CN110940909A

主分类号:G01R31/28(20060101)

分类号:G01R31/28(20060101)

优先权:

专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态:2022.11.18#发明专利申请公布后的驳回;2020.04.24#实质审查的生效;2020.03.31#公开

摘要:本发明属于集成电路测试领域,为进行集成电路直流参数测试的精密测量单元电路测试,准确对被测器件施加电压电流和测量相应的响应电压电流值,具有工作速度快、精度高、成本低且系统可移植性强的优点。为此,本发明,集成电路直流参数测试的测量单元电路,由现场可编程门阵列FPGA、模数转换器ADC、数模转换器DAC、运算放大器、功率放大器和继电器开关构成,FPGA根据输入的指令经DAC、运算放大器、功率放大器给被测器件施加激励值,被测器件对所述激励做出的响应经ADC发送给FPGA,由FPGA输出测试结果,继电器开关用来完成对电路测量模式切换和量程选择的控制。本发明主要应用于集成电路测试场合。

主权项:1.一种集成电路直流参数测试的测量单元电路,其特征是,由现场可编程门阵列FPGA、模数转换器ADC、数模转换器DAC、运算放大器、功率放大器和继电器开关构成,FPGA根据输入的指令经DAC、运算放大器、功率放大器给被测器件施加激励值,被测器件对所述激励做出的响应经ADC发送给FPGA,由FPGA输出测试结果,继电器开关用来完成对电路测量模式切换和量程选择的控制。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津大学 集成电路直流参数测试的测量单元电路

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。