申请/专利权人：株式会社日立高新技术

申请日：2018-08-23

公开（公告）日：2020-05-15

公开（公告）号：CN111164430A

主分类号：G01N35/02(20060101)

分类号：G01N35/02(20060101)

优先权：["20171012 JP 2017-198333"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.10.09#授权;2020.06.09#实质审查的生效;2020.05.15#公开

摘要：本发明缩短自动分析装置的TATTurnAroundTime:周转时间控制器21在无需进行基于测定部4的循环测定的期间，由循环时间比分析循环501要短的清洗循环503进行反应容器2的清洗，分析循环及清洗循环分别在1个循环中包含反应盘1的停止期间和旋转期间，在清洗循环中，在其停止期间中试料分注机构11、试剂分注机构7及搅拌机构5均不具有动作的时间，而清洗机构3具有动作的时间，清洗循环的停止期间比分析循环的停止期间要短，分析循环的旋转期间中的反应盘的旋转量与清洗循环的旋转期间中的反应盘的旋转量相等。

主权项：1.一种自动分析装置，其特征在于，具有：反应盘，该反应盘呈圆周状存储多个反应容器；试料分注机构，该试料分注机构向所述反应容器分注规定量的试料；试剂分注机构，该试剂分注机构向所述反应容器分注规定量的试剂；搅拌机构，该搅拌机构对分注到所述反应容器的试料和试剂进行搅拌；测定部，该测定部对所述反应容器内的试料和试剂的混合物的反应过程及或反应后的反应液进行测定；清洗机构，该清洗机构对所述反应容器进行清洗；以及控制器，在不需要所述测定部所进行的循环测定的期间，所述控制器通过循环时间比分析循环要短的清洗循环来进行基于所述清洗机构的所述反应容器的清洗，所述分析循环及所述清洗循环在1个循环中分别包含所述反应盘的停止期间和旋转期间，在所述分析循环中，在其停止期间中，所述试料分注机构、所述试剂分注机构、所述搅拌机构及所述清洗机构均具有进行动作的时间，在其旋转期间中所述测定部进行测定，在所述清洗循环中，在其停止期间中所述试料分注机构、所述试剂分注机构及所述搅拌机构均不具有进行动作的时间，而所述清洗机构具有进行动作的时间，所述清洗循环的停止期间比所述分析循环的停止期间要短，所述分析循环的旋转期间中的所述反应盘的旋转量与所述清洗循环的旋转期间中的所述反应盘的旋转量相等。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社日立高新技术 自动分析装置

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