申请/专利权人:上海亮牛半导体科技有限公司
申请日:2019-12-25
公开(公告)日:2020-05-15
公开(公告)号:CN111157872A
主分类号:G01R31/28(20060101)
分类号:G01R31/28(20060101)
优先权:
专利状态码:失效-发明专利申请公布后的驳回
法律状态:2023.10.27#发明专利申请公布后的驳回;2020.06.09#实质审查的生效;2020.05.15#公开
摘要:本发明公开了一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法,芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号,在延迟窗口内,监测逻辑处于工作状态,其他逻辑处于复位状态,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配,则测试模式被锁定,延迟复位撤离后继续保持测试模式,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配,则监测逻辑失效,延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑模式。本发明的特点是:复用现有逻辑管脚,通过DEBUG管脚进入测试模式,减少芯片管脚封装,提高管脚利用率,没有使用敏感信号复位管脚作为时钟和数据输入,有效避免影响内部正常逻辑,而且通过检测时间窗口,大幅度降低误触发进入测试模式的概率,保证可靠性。
主权项:1.复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法,其特征在于:芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号,在延迟窗口内,监测逻辑处于工作状态,其他逻辑处于复位状态,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配,则测试模式被锁定,延迟复位撤离后继续保持测试模式,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配,则监测逻辑失效,延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑模式。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海亮牛半导体科技有限公司 复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法
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