申请/专利权人：天津大学青岛海洋技术研究院

申请日：2018-11-13

公开（公告）日：2020-05-19

公开（公告）号：CN111175258A

主分类号：G01N21/64(20060101)

分类号：G01N21/64(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态：2023.01.13#发明专利申请公布后的视为撤回;2020.06.12#实质审查的生效;2020.05.19#公开

摘要：基于逐次比较法的荧光寿命测量方式，主要通过模拟域比较器对光探测单元输出的电压信号进行实时比较并取舍的方式，使最终的输出信号只包括最高电压、最低电压和时间信号，大大减少了传感器输出的有效数据量，减轻了带宽压力。

主权项：1.基于逐次比较法的荧光寿命测量方式，其特征在于：具体实施方案为：（1）基于逐次比较法的荧光寿命测量方式的系统结构荧光寿命测量方式的系统结构包括高频脉冲源、涂有荧光染料样品、光子探测单元以及两个模拟域比较器；当高频脉冲激光照射涂有荧光染料的样品后，荧光染料会辐射出与入射光波长不同的荧光光线；这些辐射出的荧光光线照射到光子探测单元，被转化为电压信号，送入两个模拟域比较器；比较器一保存下整个测量过程中各个时间段所输出的最高电压，比较器二保存下整个测量过程中各个时间段所输出的最低电压；最终传感器将最高电压、最低电压与采集到最低电压的时刻输出，即可计算出荧光寿命；（2）荧光寿命计算算法荧光寿命，即荧光光强衰减到其峰值的所需要的时间；将整个测量时间T分为n个曝光时间，每个曝光时间为： 在每个曝光时间结束后，将光探测单元的输出分别传入两个比较器；在比较器一中判断其是否比参考电压高，若比参考电压高则输出，否则输出保持参考电压；在比较器二中判断其是否比参考电压低，若比参考电压低则输出及当前时间，否则输出保持参考电压及参考时刻；整个测量时间T结束以后，比较器一输出，比较器二输出及时间，根据荧光寿命的衰减函数 即可得到荧光寿命 。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 天津大学青岛海洋技术研究院 基于逐次比较法的荧光寿命测量方式

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