申请/专利权人:三星电子株式会社
申请日:2019-10-17
公开(公告)日:2020-05-19
公开(公告)号:CN111176068A
主分类号:G03F1/84(20120101)
分类号:G03F1/84(20120101);G03F1/86(20120101)
优先权:["20181112 KR 10-2018-0138297","20190118 KR 10-2019-0006928"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2021.09.24#实质审查的生效;2020.05.19#公开
摘要:本发明提供掩模检查装置和或掩模检查方法,其能够快速且准确地检查掩模上的图案的配准,以及同时检查掩模的缺陷和图案的配准。掩模检查装置可包括:台,其被配置为接收用于检查的掩模;电子束阵列,其包括:被配置为将电子束照射到掩模的多个电子束照射器以及被配置为检测从掩模发射的电子的检测器;以及处理器,其被配置为处理来自检测器的信号。可以通过处理信号来检测掩模的缺陷,并且可以基于关于电子束照射器的位置信息来检查掩模上的图案的配准。
主权项:1.一种掩模检查装置,包括:台,其被配置为接收待检查的掩模;电子束阵列,其包括被配置为将电子束照射到掩模上的多个电子束照射器以及被配置为检测从掩模发射的电子的检测器;以及处理器,其被配置为处理来自检测器的信号,其中,通过信号的处理来检测掩模的缺陷,并且基于关于电子束照射器的位置信息来检查掩模上的图案的配准。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 三星电子株式会社 掩模检查装置和方法、以及包括该方法的制造掩模的方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。