【发明公布】芯片测试方法及装置_上海知白智能科技有限公司_202010026866.5 

申请/专利权人:上海知白智能科技有限公司

申请日:2020-01-10

发明/设计人:胡信伟

公开(公告)日:2020-05-22

代理机构:济南信达专利事务所有限公司

公开(公告)号:CN111190093A

代理人:程佩玉

主分类号:G01R31/28(20060101)

地址:200333 上海市普陀区真北路958号20幢1349室

分类号:G01R31/28(20060101)

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2020.05.22#公开

摘要:本发明提供了芯片测试方法及芯片测试装置,方法包括:根据芯片的测试序列生成数据表格;所述数据表格中包括:至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值;设置功能程序;所述功能程序,包括:执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码;还包括:由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值;根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值,由所述功能程序的功能代码执行测试项目。本发明能提高芯片测试的效率。

主权项:1.芯片测试方法,其特征在于,包括:根据芯片的测试序列生成数据表格;所述数据表格中包括:至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值;设置功能程序;所述功能程序,包括:执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码;还包括:由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值;根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值,由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海知白智能科技有限公司 芯片测试方法及装置

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