申请/专利权人：上海知白智能科技有限公司

申请日：2020-01-10

公开（公告）日：2020-05-22

公开（公告）号：CN111190093A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的驳回

法律状态：2023.02.28#发明专利申请公布后的驳回;2020.06.16#实质审查的生效;2020.05.22#公开

摘要：本发明提供了芯片测试方法及芯片测试装置，方法包括：根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；还包括：由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。本发明能提高芯片测试的效率。

主权项：1.芯片测试方法，其特征在于，包括：根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；还包括：由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海知白智能科技有限公司 芯片测试方法及装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD